“电子器件辐射效应与加固技术”专题前言

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摘要随着航空航天、核能开发利用以及高能物理研究的高速发展,越来越多的电子器件需要在辐射环境中工作。辐射粒子入射电子器件后,通过电离或非电离过程沉积能量,能够诱发包括单粒子效应、总剂量效应、位移损伤效应在内的多种辐射效应,对器件及电子系统的可靠运行构成严重威胁。因此,开展辐射效应机理和加固技术研究,对高可靠、抗辐射电子器件及系统的研发具有重要意义。

作者韩郑生马瑶

机构地区中国科学院微电子研究所中国科学院硅器件技术重点实验室学术委员会中国科学院大学集成电路学院学术委员会中国科学院可靠性保障中心中国科学院大学电子电气与通信工程学院教学委员会四川大学微电子学系

出处《微电子学》 CAS 北大核心 2023年第6期943-944,共2页 Microelectronics

关键词效应机理辐射效应电离过程总剂量效应航空航天电子系统高能物理研究入射电子

分类号 TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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微电子学

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