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红外分光光度法测定粉尘中游离二氧化硅的含量 被引量:6

DETERMINATION OF FREE SILICON DIOXIDE IN DUST BY INFRARED SPECTROPHOTOMETRY
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摘要 建立一种有效的红外分光光度法测定粉尘中游离二氧化硅含量,并对样品处理和曲线绘制方法进行了改进。游离二氧化硅含量在0~100.85mg范围内与吸光度有良好的线性关系,相关系数r=0.9996。样品加标回收率为80.35%~92.77%,测定结果的相对标准偏差不大于5.06%(n=5)。 An effective method of determination of free silicon dioxide in dust by infrared spectrophotometry was established. The methods of sample processing and the standard curve drawing were improved. The content of free silicon dioxide in dust was linear with absorbency in the range of 0-100.85 mg(r=0.999 6). The recovery was 80.35%-92.77%, and the relative standard deviation of detection results was not more than 5.06%(n=5).
出处 《化学分析计量》 CAS 2009年第6期49-51,共3页 Chemical Analysis And Meterage
关键词 红外分光光度法 游离二氧化硅 粉尘 infrared spectrophotometry free silicon dioxide dust
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参考文献2

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共引文献4

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