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氢化物发生—原子荧光法测定地化样品中痕量锗 被引量:1

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摘要 本试验采用AFS2201型原子荧仪,测定地球物理化学样品中的痕量。本方法线性范围0~500μg/ml,测定下限为0.035×10-6,精密度为1.5%。样品加标回收率98.2~103.2%,经标准样品进行验证,方法准确可靠。
作者 饶丹华
出处 《四川建材》 2012年第4期181-181,185,共2页 Sichuan Building Materials
  • 相关文献

参考文献1

  • 1杨密云;郭晓伟.氢化物无色散原子荧光法没定地球化学样品中的锗[J]分析化学,1986(05):133.

同被引文献5

引证文献1

二级引证文献7

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