论电子电气设备加速贮存寿命试验的可行性

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摘要本文讨论了电子电气系统及其所属设备在长期贮存过程中，在温度、湿度、时间三因素的作用下，设备的失效机理和失效模式，以及它们和应用的作用关系；论述了在贮存过程中，湿度、湿度和温度联合对设备的失效作用大于单独温度对设备的失效作用；论述了阿伦尼斯文程及导出的１０℃法则不能普遍应用于电子电气设备的贮存试验，只适用于由随温度的长期作用而老化的关键元器件、零件、材料构成的设备。

作者黄宽敏

出处《电子技术参考》 1995年第2期54-62,共9页

关键词贮存试验贮存寿命失效电子电气系统

分类号 TP202.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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