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130例智力低下儿童脆性X检测报告 被引量:3

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摘要 本文采用脆性X检测技术对130例先天性智力低下儿童进行了细胞遗传学研究,结果共发现27例具有染色体异常。其中t(5;15)及t(8;12),inv(9)两例核型,经鉴定为世界首报核型;检出5例脆性X综合征,检出率为3.77%,占异常核型的18.5%。
出处 《遗传》 CAS CSCD 北大核心 1995年第5期11-13,共3页 Hereditas(Beijing)
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