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一种低功耗高可靠性的CMOS过流保护电路 被引量:10

A Low-Power High Reliability CMOS Current Limit Circuit
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摘要 提出了一种结构简单、功能可靠的CMOS过流保护电路。通过增加FOLDBACK功能有效地降低了电路损失的功耗,并且提高了系统的可靠性。在SAMSUNG0.6ΜMCMOS工艺下,HSPICE模拟仿真结果证明该电路工作可靠、性能优良,可广泛应用于功率开关器件如MOSFET的保护电路中。 A low-power high reliability CMOS current limit circuit is proposed, which can lower the circuit's power dissipation, and enhance the reliability of the system with the application of foldbck current limit circuit. This circuit is manufactured by SAMSUNG 0.61~m CMOS technology. The Hspice simulation results proved the feasibility of the circuit. It can be applied in power semiconductor, such as MOSFET.
出处 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2006年第1期52-54,共3页 Microelectronics & Computer
基金 国家自然科学基金资助项目(60371017) 四川省学术和技术带头人资助项目
关键词 过流保护 低功耗 foldback CMOS MOSFET Current limit, Low power dissipation, Foldback, CMOS, MOSFET
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献5

  • 1王远.模拟电子技术[M].机械工业出版社,2000..
  • 2陈汝全.电子技术常用器件应用手册[M].北京:机械工业出版社,2001.1-188.
  • 3Stanley G Burns 等 董平等(译).电子电路原理(上册)[M].北京:机械工业出版社,2001..
  • 4Nakamura,Katsufumi.An 85mW, 10b.40Msamples/s CMOS Parallel-Pipelines ADC[].IEEE Journal of Solid State Circuits.1995
  • 5Ribner,David B.And Copeland, Miles A.Design Techniques for Cascoded CMOS OpAmps with Improved PSRR and Common-Mode Input Range[].IEEE Journal of Solid State Circuits.1984

共引文献3

同被引文献74

引证文献10

二级引证文献29

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