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一种利用微观分析手段改善荧光粉涂敷的方法
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摘要
本文论述了一种利用电镜扫描对荧光粉膜的微观结构分析手段,对比不同状态荧光粉膜的微观结构,分析推测出导致荧光粉膜质问题产生的原因,并用于指导实际生产的方法。
作者
李泾
曲宁
机构地区
深圳赛格日立彩色显示器件有限公司
出处
《显示器件技术》
2006年第1期16-18,共3页
关键词
膜厚
沉降
分类号
TN104.3 [电子电信—物理电子学]
TU528.31 [建筑科学—建筑技术科学]
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