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一种利用微观分析手段改善荧光粉涂敷的方法

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摘要 本文论述了一种利用电镜扫描对荧光粉膜的微观结构分析手段,对比不同状态荧光粉膜的微观结构,分析推测出导致荧光粉膜质问题产生的原因,并用于指导实际生产的方法。
作者 李泾 曲宁
出处 《显示器件技术》 2006年第1期16-18,共3页
关键词 膜厚 沉降
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