摘要
通过四氯化碳分离或高温灰化，X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。其中灰化处理适宜温度为500-750℃。该方法简便、快速，灵敏度高，样品用量少，准确可靠，可推广为检测面粉质量的一种较理想的手段。
Talc powder in flour was determined flour with carbon tetrachloride or eineration at were simple, rapid, reliable and can be used for by X-ray diffraction analysis（XRD） after isolation of high temperature from 500℃ to 750℃. The methods the measurement of talc powder in flour.
出处
《分析科学学报》
CAS
CSCD
2006年第6期651-654,共4页
Journal of Analytical Science
关键词
面粉
滑石粉
X射线衍射分析
Flour
Talc powder
X-ray diffraction analysis
