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基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计

Design of Automatic Amplifier Parameter Meter Based on DDS and MCU
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摘要 本文设计了一种由SPCE061控制核与DDS扫频信号源组成的测量系统,可自动测量集成运放输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、交流差模开环电压增益AVD、交流共模抑制比KCMR和单位增益带宽BWG。测量精度由符合GB3442-82标准的标定电路校正。控制软件采用二分优化算法,提升了系统响应灵敏度,DDS的高分辨率则有效地改善了BWG测量精度。 This paper proposes a measurement system composed of DDS swept signal source and SPCE061. The system can measure many parameters of operational amplifier automatically, such as VIO, IIO, AVD, KCMR and BWG .
出处 《电子设计应用》 2007年第4期100-102,15,共3页 Electronic Design & Application World
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