摘要
JTAG边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.边界扫描技术克服了传统针床测试的缺点,而且测试费用也相对较低,这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用.本文详细介绍了边界扫描技术的基本原理和结构,并提出了一种优化的测试算法,最后介绍了一种可以广泛应用、高效低廉的边界扫描测试方法,实现对芯片级、板级和系统级集成电路进行测试的功能.
JTAG Boundary-Scan technique（BST）is a new technique for connection test,it provides a solution to the test of component-functionality, board interconnection and interaction,facilitate the debugging of system circuitry.In the paper,basic theory and architecture of BST will be introduced detaily,then one optimal test algorithm is presented,at last an applied widely,effective and low cost BST method is introduced.The method can accomplish boundary scan test for chip,board and system level integrated circuit.
出处
《天津理工大学学报》
2007年第2期28-31,共4页
Journal of Tianjin University of Technology
基金
天津市科技发展计划项目(05ZHXPZH01600)
