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NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试
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摘要
NAND Flash以其大容量、低价格等优势迅速成为嵌入式系统存储的新宠,因此其上的文件系统研究也日益广泛。本文简要介绍了常用的NAND Flash文件系统YAFFS,并针对YAFFS在均匀损耗和掉电恢复方面进行在线测试。在给出测试结果的同时,着重研究嵌入式软件测试方案和方法;对测试结果进行分析,并提出改进方案和适用环境。
作者
胡一飞
徐中伟
谢世环
机构地区
同济大学
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2007年第3期5-8,共4页
Microcontrollers & Embedded Systems
关键词
NAND
FLASH
均匀损耗
软件测试
YAFFS
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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2007年 第3期
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