用于光谱分析的对准系统

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摘要本发明提供一种光谱系统以及光谱系统的自治调整方法和相应的计算机程序产品。通过检测反射辐射在光谱分析单元的孔径的横平面中的位置，可以产生控制信号，其允许驱动光学元件的伺服驱动平移或倾斜台。以该方式，光谱系统的横向未对准可以进行有效地检测。通常，多个不同的检测方案可以实现，其允许自治调整光谱系统以及自治消除光谱系统的未对准。

机构地区皇家飞利浦电子股份有限公司

出处《化学分析计量》 CAS 2007年第5期76-76,共1页 Chemical Analysis And Meterage

关键词对准系统光谱分析通过检测伺服驱动计算机程序反射辐射控制信号光学元件

分类号 TP309.5 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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