高可靠应用的塑封微电路升级筛选和鉴定的探讨

在线阅读下载PDF

导出

摘要介绍了塑封微电路(PEM)的可靠性问题,以及应用、筛选和鉴定研究状况,探讨了PEM在高可靠应用中的破坏性物理分析(DPA)、筛选、鉴定等技术方法及其注意事项。

作者杨少华来萍

出处《电子产品可靠性与环境试验》 2009年第B10期76-80,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词塑封微电路高可靠应用 DPA 筛选鉴定

参考文献6

1Lessons Learned from Screening and Qualification of COTS PEMs for a Space Project, http://nepp.nasa.gov.
2PEM-INST-001: Instructions for Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) Selection, Screening, and Qualification [R] , NASA/ TP 2003-212244, 2003 年 6月.
3NASA Commissioned Guideline Report on the Use of COTS Plastic Microcircuits in NASA Space Flight Hardware [R], 2004年12月.
4郭伟,葛秋玲.塑封集成电路的抗潮湿性研究[J].电子与封装,2005,5(4):16-19. 被引量：7
5来萍,恩云飞,牛付林.塑封微电路应用于高可靠领域的风险及对策[J].电子产品可靠性与环境试验,2006,24(4):53-58. 被引量：12
6周军连,王蕴辉,唐云.塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定[J].电子产品可靠性与环境试验,2007,25(5):48-51. 被引量：8

1姜秀杰,孙辉先,王志华,张利.商用器件的空间应用需求、现状及发展前景[J].空间科学学报,2005,25(1):76-80. 被引量：26
2来萍,恩云飞,牛付林.塑封微电路应用于高可靠领域的风险及对策[J].电子产品可靠性与环境试验,2006,24(4):53-58. 被引量：12
3SANDOR M. Plastic Encapsulated Microcircuits (PEMs) Reliability/Usage Guidelines For Space Applications [Z] .Pasadena, California: J et Propulsion Laboratory California Institute of Technology, 2000.
4EIA SSB-1-2000, Guidelines for Using Plastic Encapsulated Microcircuits and Semiconductors in Military,Aerospace, and other Rugged Applications [S] .
5LICARI J J, ENLOW L R. Hybrid Microcircuit Technology Handbook [M] . Beijing: Publishing House of Electronics Industry, 2004.
6WC/JEDEC J-STD-O20B-2002, Moismre/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic Solid State Surface Mount Devices [S] .
7NASA/TP-212244-2003, PEM-INST-001 :Instructions for Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) Selection, Screening, and Qualification [S].
8韩勤郑鹏洲.塑封微电路在美国高可靠性领域的应用概况.国外军用电子元器件动态,2006,(3):12-15.
9肖虹,蔡少英,刘涌.国外塑封微电路的可靠性研究进展[J].电子产品可靠性与环境试验,2000,18(6):45-49. 被引量：20

电子产品可靠性与环境试验

2009年第B10期

内容加载中请稍等...