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基于FPGA的ADC指标测量及测试系统

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摘要本文由提出混合信号集成电路中ADC部分的指标测量测试问题开始,提出了一种基于可编程逻辑门电路的测试系统解决方案,并给出了系统框图。介绍了测试系统各部分的组成,然后又列举了ADC的各项重要的动态和静态指标,最后给出了计算各指标的具体算法。

作者史可显

机构地区上海交通大学

出处《黑龙江科技信息》 2010年第22期86-86,共1页 Heilongjiang Science and Technology Information

关键词 ADC 测试 FPGA SNR SINAD DNL INL

分类号 TN948.7 [电子电信—信号与信息处理]

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2010年第22期

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