摘要
设计了一种基于PIC单片机和CPLD(复杂可编程逻辑器件)共同控制、FLASH MEMORY(闪速大容量存储器)存储的新型存储测试系统。设计方案实现了在采样速率变化的情况下,FIFO自适应地完成缓存速率调整的功能,并且多通道数据能连续不间断地存储到FLASH存储器中。采用了一种新的对FLASH无效块检测的方法,延长了系统的使用时间。实验结果表明,电路能够准确有效地进行A/D数据采集。
A new storage measurement system based on the PIC MCU CPLD（complex programmable logic device） and FLASH（large-capacity flash memory） is proposed.The design implement that in the variable sampling rate,FIFO cache achieve self-adapting function of the rate adjustment,and multi-channel data can be stored uninterrupted in FLASH memory.Using a new way of detecting FLASH invalid block,extend the using time of the system.The results show that the design can meet the requirement of acquisition system.
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第2期228-231,共4页
Nuclear Electronics & Detection Technology
