期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息

基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成

Generation of Multi-Frequency Test Vector for Analog Circuits Based on Testability Analysis
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非常有效,具有很强的实用性。 A method for generation of multi-frequency test vector for analog circuits was proposed based on testability analysis.Test points in analog circuits were properly chosen and ambiguity groups were defined using testability analysis.Test vectors were automatically generated by sensitivity computation.Experimental results showed that this method was both effective and practical for generation of test vectors in analog circuits.
作者 王承 刘治国 叶韵 梁海浪 何进
机构地区 北京大学深港产学研基地深圳市系统芯片设计(SOC)重点实验室 工业和信息化部电子第五研究所
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第5期737-740,共4页 Microelectronics
基金 国家自然科学基金资助项目(60936005) 深圳市杰出青年项目(JC201005280670A)
关键词 可测性分析 模拟电路 多频测试矢量 故障诊断 Testability analysis Analog circuit Multi-frequency test vector Fault diagnosis
分类号 TP206.3 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 相关文献

参考文献13

  • 1YUAN L F, HE Y G, SUN Y C, et al. A new neural-network-based fault diagnosis approach for analog circuits by using kurtosis and entropy as a preprocessor E J]. IEEE Trans Instru Measur, 2010, 59(3) : 586 595.
  • 2孙永奎,陈光,李辉.基于可测性分析和支持向量机的模拟电路故障诊断[J].仪器仪表学报,2008,29(6):1182-1186. 被引量：20
  • 3袁海英,陈光.模拟电路的可测性及故障诊断方法研究[J].电子测量与仪器学报,2006,20(5):17-20. 被引量：17
  • 4SLAMANI M, KAMINSKA B. Multifrequency testability analysis for analog circuits [-C // 12th IEEE Proc VLSI Test Syrup. Cherry Hill, NJ, USA. 1994: 54 59.
  • 5HUYNH S D, SEONGWON K, SOMA M, et al. Automatic analog test signai generation using multifrequency analysis [J]. IEEE Trans Circ Syst II: Ana Dig Sign Process, 1999, 46(5)I 565-576.
  • 6FEDI G, GIOMI R, LUCHETTA A, et al. On the application of symbolic techniques to the multiple fault location in low testability analog circuits [J]. IEEE Trans Circ Syst II: Ana Dig Sign Process, 1998, 45 (10) : 1383-1388.
  • 7SAKES R. A measure of testability and its application to test point selection theory -C3 // Proc 20th Midwest Symp Circ Syst. Lubbock, TX, USA. 1977: 576 583.
  • 8孙秀斌,陈光(?),谢永乐.模拟集成电路的测试节点选择[J].电子与信息学报,2004,26(4):645-650. 被引量：16
  • 9孙秀斌,陈光,谢永乐.模拟电路故障诊断中线性组合矩阵的最简形式[J].系统工程与电子技术,2005,27(5):761-763. 被引量：3
  • 10STARZYK J A, PANG J, MANETTI S, et al. Finding ambiguity groups in low testability analog circuits [J]. IEEE Trans Circ Syst I: Fund Theo Appl, 2000, 47(8): 1125 1137.

二级参考文献35

  • 1李郝林.系统故障的可测性及诊断方法研究[J].西安理工大学学报,1994,10(3):170-173. 被引量：3
  • 2王承,陈光,谢永乐.多层感知机在模拟/混合电路故障诊断中的应用[J].仪器仪表学报,2005,26(6):578-581. 被引量：13
  • 3袁海英,陈光.模拟电路的可测性及故障诊断方法研究[J].电子测量与仪器学报,2006,20(5):17-20. 被引量：17
  • 4Fedi G, Luchetta A, Manetti S, Piccirilli M C. A new symbolic method for analog circuit testability evaluation. IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, 1998, 47(2): 554-565.
  • 5Berkowitz R S. Conditions for network-element-value solvability. IEEE Trans. on Circuit Theory,1962, CT-9(1): 24-29.
  • 6Sakes R. A measure of testability and its application to test point selection theory. in Proc. of the 20th Midwest Symposium on Circuits and Systems, Lubbock, Texas Tech. Univ., 1977: 576-583.
  • 7Liberatore A, Manetti S, Piccirilli M C. A new efficient method for analog circuit testability measurement. in Proc. of Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu,Japan, 1994: 193-196.
  • 8Tao Pi, C. -J. Richard Shi. Analog testability analysis by determinant-decision-diagrams based symbolic analysis. in Proc. of the ASP-DAC 2000, Yokohama, Japan, 2000: 541-546.
  • 9Manthe A, C. -J. Richard Shi. Lower bound based DDD minimization for efficient symbolic circuit analysis. in Proc. of 2001 IEEE International Conference on Computer Design, Los Alamitos,California, 2001: 374-379.
  • 10Xiangdong Tan, C. -J. Richard Shi. Hierarchical symbolic analysts of large analog circuits with determinant decision diagrams. in Proc. of the 1998 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Monterey, CA, 1998: 318-321.

共引文献50

微电子学
2012年 第5期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部