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关于T.Shiraiwa与N.Fujino的荧光X射线强度公式的研究

STUDY ON T. SHIRAIWA AND N. FUJINO'S EQUATIONS OF FLUORESCENT X-RAY INTENSITY
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摘要 本文揭示了T.Shiraiwa及N.Fujino推导荧光X射线强度公式的思路,解决了dx_1/sinψ、dx_2/sinψ及(2πr_1dr_1)/(4πR_1~2)等项的物理意义含糊不清的疑团,指出了他们的两个错误及出错的原因,并作了恰当的相同校正。 Train of thought in derivation of T. Shimiwa and N. Fujino's equations is revealed. Some vague doubtful points, such us physical meanings of (dx_1)/sinψ, (dx_2)/sinψ and (2πr_1dr_1)/(4πR_1~2), are clarified. Their two mistakes and causes of mistakes are shown, and corrections are given.
作者 王基镕
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第5期73-76,共4页 Spectroscopy and Spectral Analysis
  • 相关文献

参考文献2

  • 1王基熔,光谱学与光谱分析,1990年,10卷,54页
  • 2张立兴,X-ray Spectrometry,1984年,13卷,2期,52页

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