摘要
本文介绍了基于参数退化的寿命试验的理论与方法 .通过开展SRAM贮存寿命试验,并对试验数据处理与分析,验证了基于参数退化寿命试验方法与程序,试验系统以及试验数据分析方法的有效性。在有限的试验时间内,经过数据分析建立样品敏感参数退化模型,对样品的贮存寿命进行预计。
出处
《电子制作》
2014年第23期30-31,共2页
Practical Electronics
基金
北京市财政资金项目"创新工程Ⅱ-3:大规模集成电路可靠性高加速试验方法研究(编号:PXM2014_178102_000001)"支持
