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XRF压片法分析轻烧镁球中的SiO2、MgO含量 被引量:1

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摘要 文章研究了运用X荧光光谱仪新建曲线,分析粉末压片制样的轻烧镁球中SiO_2、MgO等成分的分析方法,包括样片的制备条件、X荧光光谱仪的参数条件及分析曲线的建立的设置等,并对检测结果进行了精密度、准确度分析,取得了满意的结果。采用X荧光光谱仪方法替代手工方法大大降低了分析的劳动强度,缩短了分析周期,该方法便捷、准确,能够满足快节奏的生产需求。
作者 廖子云
出处 《冶金与材料》 2020年第2期3-4,共2页 Metallurgy and Materials
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