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XRF压片法分析轻烧镁球中的SiO2、MgO含量
被引量:
1
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摘要
文章研究了运用X荧光光谱仪新建曲线,分析粉末压片制样的轻烧镁球中SiO_2、MgO等成分的分析方法,包括样片的制备条件、X荧光光谱仪的参数条件及分析曲线的建立的设置等,并对检测结果进行了精密度、准确度分析,取得了满意的结果。采用X荧光光谱仪方法替代手工方法大大降低了分析的劳动强度,缩短了分析周期,该方法便捷、准确,能够满足快节奏的生产需求。
作者
廖子云
机构地区
宝武武钢集团鄂钢公司信息化部(质检中心)
出处
《冶金与材料》
2020年第2期3-4,共2页
Metallurgy and Materials
关键词
轻烧镁球
XRF压片法
X荧光光谱仪
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
TF702 [冶金工程—钢铁冶金]
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