摘要
为了提高模型检测准确性,并更好地贴合实际工业IC芯片外观缺陷检测流水线工作流程,采用了环形光源和工业相机作为数据采集端,以获取高质量的芯片图像数据。然后组建数据标注团队对采集后的图像进行精细化标注,构建了一个用于芯片外观缺陷检测的图像数据集。同时,提出了一种基于通道空间交互注意力的IC芯片外观缺陷检测方法,可以有效地实现对IC芯片引脚和表面两种外观缺陷的检测。最后,在模型训练完成后,将其直接封装成了可视化检测软件,用户可以轻松利用该软件进行在线或离线的IC芯片缺陷检测。
出处
《电子制作》
2025年第3期52-57,共6页
Practical Electronics
基金
2022年浙江省教育厅一般项目“基于机器视觉的IC芯片缺陷检测关键技术研究”(项目编号:Y202250720)
2023年温州市科技局一般项目“基于视频识别的雨雾天气下高速公路异常事件检测关键技术研究”(项目编号:S2023013)
2023年温州市科技局“揭榜挂帅”重大项目“基于机器视觉的微型电子元器件在线检测技术研究及装备研制”(项目编号:ZG2023022)。
