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基于NIR_SVM技术的韭菜农残检测研究

Study on Detection of Pesticide Residues in Leek Based on NIR_SVM Technology
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摘要 结合基于统计学理论的支持向量机(SVM)与近红外光谱(NIR)技术,以韭菜中常用的敌敌畏等有机磷农药为研究对象,以国标规定的检测限为标准,依据采集到的农残透反射近红外光谱吸光度数据,建立SVM农残定性识别模型,为有效甄别农药残留和种类提供了一种新方法。 Combined with the support vector machine (SVM) and near infrared spectroscopy (NIR) technology based on statistical theory, this paper takes organic phosphorus pesticide Dichlorvos commonly used in leek as research object, takes national standard detection limit as the standard, according to the pesticide residues absorbance data collected through near infrared reflectance spectroscopy (NIRS), establishes SVM identification model for pesticide residues, and provides a new method for the effective identification of pesticide residues and species.
作者 赵敏 郅芬香
出处 《价值工程》 2016年第16期222-223,共2页 Value Engineering
基金 鹤壁汽车工程职业学院2015年度自然科学校本课题(2015qcxy08)
关键词 SVM NIR 农残检测 SVM NIR detection of pesticide residues
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