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题名FPGA准实时寿命损耗评价系统的验证试验设计
被引量：1
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作者
刘涵雪
谢劲松
吕镇邦
喻宏
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机构
北京航空航天大学可靠性与系统工程学院
中航工业西安航空计算技术研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第12期951-958,共8页
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文摘
为验证已建立的现场可编程门阵列(FPGA)器件准实时寿命评价系统的工程合理性,进行了加速寿命试验的设计。验证试验的设计,考虑不同型号之间的可靠性差异,针对特定型号的Xilinx XCV600 FPGA样本,能够定位样本内部具体失效部位。针对FPGA高可靠性的特点,施加温度、电压和频率3种加速应力;针对FPGA使用环境多变的特点,构建了整套载荷数据跟踪与处理流程。试验方案通过硬件和软件系统实现,硬件系统进行FPGA工作环境的加载及准实时工作情况数据的采集,软件系统基于电迁移失效机理对采集到的数据进行处理得到寿命信息,将试验与预测结果进行比对完成验证。实践表明了该试验设计的可实施性,确认了部分系统预测结果的准确性。
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关键词
现场可编程门阵列(FPGA)
特定型号
准实时寿命评价
加速寿命试验
验证试验
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Keywords
field programmable gate array（FPGA）
specific type
quasi-real-time residual life assessment
accelerated life test
verification test
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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