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基于SEM IP和部分重配置的SRAM型FPGA单粒子故障注入
被引量:
3
1
作者
王梦茹
周珊
+2 位作者
薛盼盼
孔璐
王金波
《微电子学与计算机》
2021年第8期8-12,共5页
SEM IP(Soft Error Mitigation软错误缓解核)是对SRAM FPGA设计进行单粒子故障注入的一种有效方法.然而由于目标设计与SEM IP部分随机布局布线在一块芯片上,导致进行故障注入时很有可能会打翻SEM IP所使用的配置寄存器而导致故障注入停...
SEM IP(Soft Error Mitigation软错误缓解核)是对SRAM FPGA设计进行单粒子故障注入的一种有效方法.然而由于目标设计与SEM IP部分随机布局布线在一块芯片上,导致进行故障注入时很有可能会打翻SEM IP所使用的配置寄存器而导致故障注入停止工作,同时对于目标设计失效率统计不准确.为解决这一问题,基于SEM IP和部分重配置技术开发了一套单粒子故障注入原型系统用于单粒子故障注入实验.该方法将SEM IP和目标设计布局布线到芯片的不同区域,能够只对目标设计所在区域进行故障注入并且不中断目标设计运行,并且在发生不可纠正错误后对目标设计所在区域进行部分重新配置,配置数据更少,用时更短,系统故障的注入效率大大提高,提高对于目标设计软错误失效率估计的准确性.
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关键词
SEM
IP
部分重配置
单粒子故障注入
SRAM型FPGA
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职称材料
一种SRAM型FPGA单粒子故障注入实验集的筛选方法
被引量:
2
2
作者
王梦茹
周珊
+1 位作者
张弛
王金波
《微电子学与计算机》
2021年第1期38-44,共7页
针对目前单粒子故障注入实验中存在的故障注入位置盲目导致的效率低下、耗费大量的时间人力成本从而难以在工程项目中推广的问题,提出一种SRAM型FPGA故障注入实验集的筛选方法用来指导单粒子故障注入.该方法剖析SRAM型FPGA芯片结构,归...
针对目前单粒子故障注入实验中存在的故障注入位置盲目导致的效率低下、耗费大量的时间人力成本从而难以在工程项目中推广的问题,提出一种SRAM型FPGA故障注入实验集的筛选方法用来指导单粒子故障注入.该方法剖析SRAM型FPGA芯片结构,归纳单粒子故障的时间特性,确定单粒子故障模式;并结合具体FPGA设计的资源占用情况、资源特性、资源连接关系等给出故障注入实验集的筛选和优先级排序方法;搭建单粒子故障注入原型系统对所提方法进行了工程验证.结果表明提出的单粒子故障注入实验集的筛选和优先级排序方法正确、有效,能快速定位出设计中与功能密切相关的配置位,缩短故障注入的时间成本,使得故障注入方法广泛应用于实际工程成为可能.
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关键词
单粒子故障注入
有效实验集筛选
XDL网表
SRAM型FPGA
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职称材料
题名
基于SEM IP和部分重配置的SRAM型FPGA单粒子故障注入
被引量:
3
1
作者
王梦茹
周珊
薛盼盼
孔璐
王金波
机构
中国科学院大学
中国科学院空间应用工程与技术中心
出处
《微电子学与计算机》
2021年第8期8-12,共5页
基金
军科委基础加强计划技术领域基金项目(2020-JCJQ-JJ-490)。
文摘
SEM IP(Soft Error Mitigation软错误缓解核)是对SRAM FPGA设计进行单粒子故障注入的一种有效方法.然而由于目标设计与SEM IP部分随机布局布线在一块芯片上,导致进行故障注入时很有可能会打翻SEM IP所使用的配置寄存器而导致故障注入停止工作,同时对于目标设计失效率统计不准确.为解决这一问题,基于SEM IP和部分重配置技术开发了一套单粒子故障注入原型系统用于单粒子故障注入实验.该方法将SEM IP和目标设计布局布线到芯片的不同区域,能够只对目标设计所在区域进行故障注入并且不中断目标设计运行,并且在发生不可纠正错误后对目标设计所在区域进行部分重新配置,配置数据更少,用时更短,系统故障的注入效率大大提高,提高对于目标设计软错误失效率估计的准确性.
关键词
SEM
IP
部分重配置
单粒子故障注入
SRAM型FPGA
Keywords
SEM IP
partial reconfiguration
single particle fault injection
SRAM FPGA
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
一种SRAM型FPGA单粒子故障注入实验集的筛选方法
被引量:
2
2
作者
王梦茹
周珊
张弛
王金波
机构
中国科学院大学
中科院空间应用工程与技术中心
出处
《微电子学与计算机》
2021年第1期38-44,共7页
基金
载人航天-KJZ集成测试系统(Y3140731RN)。
文摘
针对目前单粒子故障注入实验中存在的故障注入位置盲目导致的效率低下、耗费大量的时间人力成本从而难以在工程项目中推广的问题,提出一种SRAM型FPGA故障注入实验集的筛选方法用来指导单粒子故障注入.该方法剖析SRAM型FPGA芯片结构,归纳单粒子故障的时间特性,确定单粒子故障模式;并结合具体FPGA设计的资源占用情况、资源特性、资源连接关系等给出故障注入实验集的筛选和优先级排序方法;搭建单粒子故障注入原型系统对所提方法进行了工程验证.结果表明提出的单粒子故障注入实验集的筛选和优先级排序方法正确、有效,能快速定位出设计中与功能密切相关的配置位,缩短故障注入的时间成本,使得故障注入方法广泛应用于实际工程成为可能.
关键词
单粒子故障注入
有效实验集筛选
XDL网表
SRAM型FPGA
Keywords
single particle fault injection
effective experiment set screening
XDL netlist
SRAM FPGA
分类号
V443 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于SEM IP和部分重配置的SRAM型FPGA单粒子故障注入
王梦茹
周珊
薛盼盼
孔璐
王金波
《微电子学与计算机》
2021
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
一种SRAM型FPGA单粒子故障注入实验集的筛选方法
王梦茹
周珊
张弛
王金波
《微电子学与计算机》
2021
2
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职称材料
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