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针对多时钟扫描测试的可测性设计方法
被引量：
4
1
作者
周锦锋
陈志冲
倪光南
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003年第4期500-502,508,共4页
在数字集成电路设计和生产中 ,基于扫描的测试方法是重要的可测性设计 (design for test)技术 在多时钟的扫描测试设计中 ,不同时钟域之间信号的交叉会增加测试矢量的数目 ,从而增加了测试的成本 采用新的可测性设计方法 ,在扫描测试...
在数字集成电路设计和生产中 ,基于扫描的测试方法是重要的可测性设计 (design for test)技术 在多时钟的扫描测试设计中 ,不同时钟域之间信号的交叉会增加测试矢量的数目 ,从而增加了测试的成本 采用新的可测性设计方法 ,在扫描测试时用多路选通器隔断时钟域之间的交叉信号 ,使得原来处于不同捕获时钟组的时钟被分配到相同的时钟组中 ,在故障覆盖率基本不变的同时 ,减少测试矢量 ,降低测试成本 经实验验证 ,文中新的可测性设计方法可以明显地减少测试矢量数目 。
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关键词
数字集成电路
可测性设计方法
时钟扫描测试
多路选通器
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职称材料
题名
针对多时钟扫描测试的可测性设计方法
被引量：
4
1
作者
周锦锋
陈志冲
倪光南
机构
中国科学院计算技术研究所数字化技术研究室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003年第4期500-502,508,共4页
文摘
在数字集成电路设计和生产中 ,基于扫描的测试方法是重要的可测性设计 (design for test)技术 在多时钟的扫描测试设计中 ,不同时钟域之间信号的交叉会增加测试矢量的数目 ,从而增加了测试的成本 采用新的可测性设计方法 ,在扫描测试时用多路选通器隔断时钟域之间的交叉信号 ,使得原来处于不同捕获时钟组的时钟被分配到相同的时钟组中 ,在故障覆盖率基本不变的同时 ,减少测试矢量 ,降低测试成本 经实验验证 ,文中新的可测性设计方法可以明显地减少测试矢量数目 。
关键词
数字集成电路
可测性设计方法
时钟扫描测试
多路选通器
Keywords
design-for-test
scan test
test pattern
capture clock group
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
针对多时钟扫描测试的可测性设计方法
周锦锋
陈志冲
倪光南
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003
4
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