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一种新型高速嵌入式动态随机存储器
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作者 臧松干 王鹏飞 +3 位作者 林曦 刘昕彦 丁士进 张卫 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第1期50-53,共4页
基于二维器件模拟工具,研究了一种采用栅控二极管作为写操作单元的新型平面无电容动态随机存储器。该器件由一个n型浮栅MOSFET和一个栅控二极管组成。MOSFET的p型掺杂多晶硅浮栅作为栅控二极管的p型掺杂区,同时也是电荷存储单元。写&quo... 基于二维器件模拟工具,研究了一种采用栅控二极管作为写操作单元的新型平面无电容动态随机存储器。该器件由一个n型浮栅MOSFET和一个栅控二极管组成。MOSFET的p型掺杂多晶硅浮栅作为栅控二极管的p型掺杂区,同时也是电荷存储单元。写"0"操作通过正向偏置二极管实现,而写"1"操作通过反向偏置二极管,同时在控制栅上加负电压使栅控二极管工作为隧穿场效应晶体管(Tunneling FET)来实现。由于正向偏置二极管和隧穿晶体管开启时接近1μA/μm的电流密度,实现了高速写操作过程,而且该器件的制造工艺与闪烁存储器和逻辑器件的制造兼容,因此适合在片上系统(SOC)中作为嵌入式动态随机存储器使用。 展开更多
关键词 嵌入式动态随机存储器 栅控二极管 隧穿场效应晶体管
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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 被引量:15
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作者 陆思安 何乐年 +1 位作者 沈海斌 严晓浪 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期205-208,共4页
随着集成电路设计规模的不断增大 ,在芯片中特别是在系统芯片 SOC( system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理 ,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。
关键词 嵌入存储器 存储器内建自测试 MARCH算法
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嵌入式高速DSP视频图像处理系统中数据存储器的接口设计 被引量:12
3
作者 李武森 迟泽英 陈文建 《红外技术》 CSCD 北大核心 2003年第1期51-53,57,共4页
探讨了高速DSP视频处理系统中外部数据存储器的容量、速度及与TMS32 0C6X的接口方法 ,设计了实际的接口电路 ,讨论了TMS32 0C6X的片内数据存储器及其地址冲突问题 ,以及视频处理过程中图像数据的存放问题。
关键词 嵌入 DSP 视频图像处理系统 数据存储器 接口设计 数字信号处理器 同步动态扫描存储器
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嵌入式存储器的内建自测试和内建自修复 被引量:12
4
作者 江建慧 朱为国 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1050-1056,共7页
指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法 ,对该领域的研究情况进行了评述 .总结了存储器传统的故障模型 ,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型 .详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案 ,讨... 指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法 ,对该领域的研究情况进行了评述 .总结了存储器传统的故障模型 ,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型 .详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案 ,讨论了在内建自测试电路中增加内建冗余分析、内建故障诊断和内建自修复等功能的可行性 . 展开更多
关键词 嵌入存储器 故障模型 内建自测试 内建自修复
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一种嵌入式存储器内建自测试电路设计 被引量:6
5
作者 王丽 施玉霞 王友仁 《计算机测量与控制》 CSCD 2008年第5期624-626,共3页
随着存储器在芯片中变得越来越重要和半导体工艺到了深亚微米(deep-sub-micron,DSM)时代,对存储器的故障测试变得非常重要,存储器内建自测试(memory built—in self—test,MBIST)是一种有效测试嵌入式存储器的方法;给出了一种基于LFSR... 随着存储器在芯片中变得越来越重要和半导体工艺到了深亚微米(deep-sub-micron,DSM)时代,对存储器的故障测试变得非常重要,存储器内建自测试(memory built—in self—test,MBIST)是一种有效测试嵌入式存储器的方法;给出了一种基于LFSR的存储器内建自测试电路设计,采用LFSR设计的地址生成器的面积开销相当小,从而大大降低了整个测试电路的硬件开销;16×32b SRAM内建自测试电路设计实验验证了此方法的可行性,与传统的方法相比,它具有面积开销小、工作速度快和故障覆盖率高等优点。 展开更多
关键词 嵌入存储器 SRAM 线性反馈移位寄存器(LFSR) 内建自测试
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嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究 被引量:3
6
作者 王晓琴 黑勇 +1 位作者 吴斌 乔树山 《电子器件》 EI CAS 2005年第4期893-896,共4页
针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动... 针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。 展开更多
关键词 嵌入存储器 存储器内建自测试 存储器内建自诊断
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一种专用可重配置的FPGA嵌入式存储器模块的设计和实现 被引量:7
7
作者 余慧 王健 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第2期215-222,共8页
本文设计了一种满足FPGA芯片专用定制需求的嵌入式可重配置存储器模块.一共8块,每块容量为18Kbits的同步双口BRAM,可以配置成16K×1bit、8K×2bits、4K×4bits、2K×9bits、1K×18bits、512×36bits六种不同的... 本文设计了一种满足FPGA芯片专用定制需求的嵌入式可重配置存储器模块.一共8块,每块容量为18Kbits的同步双口BRAM,可以配置成16K×1bit、8K×2bits、4K×4bits、2K×9bits、1K×18bits、512×36bits六种不同的位宽工作模式;write-first、no-change两种不同的写入模式.多个BRAM还可以通过FPGA中互连电路的级联来实现深度或宽度的扩展.本文重点介绍实现可重配置功能的电路及BRAM嵌入至FPGA中的互连电路.采用SMIC 0.13μm 8层金属CMOS工艺,产生FDP-II芯片的完整版图并成功流片,芯片面积约为4.5mm×4.4mm.运用基于March C+算法的MBIST测试方法,软硬件协同测试,结果表明FDP-II中的BRAM无任何故障,可重配置功能正确,证实了该存储器模块的设计思想. 展开更多
关键词 嵌入存储器 可重配置 FPGA 互连 灵敏放大器
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嵌入式高速DSP视频图像处理系统程序存储器的接口设计 被引量:3
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作者 李武森 迟泽英 陈文建 《南京理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期499-502,共4页
该文探讨了嵌入TMS32 0C6 2 0 1的高速DSP视频图像处理系统外部程序存储器的扩展方法 ;详细阐述了DSP片上程序RAM工作模式的配置过程 ;最后给出了整个高速DSP视频图像处理系统程序存储器的工作原理。
关键词 嵌入高速DSP视频图像处理系统 接口设计 数字信号处理 存储器 工作原理 工作模
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嵌入式可编程存储器设计中的“选择性寄存”方法 被引量:3
9
作者 蔡刚 杨海钢 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第11期2762-2766,共5页
该文提出一种"选择性寄存"的方法用于解决同步双端口存储器IP同时对同一地址进行读写操作时造成的读出数据丢失的问题。利用该方法,通过使用同步双端口存储器IP和标准单元来设计嵌入式可编程存储器,可减小设计的复杂度、增强... 该文提出一种"选择性寄存"的方法用于解决同步双端口存储器IP同时对同一地址进行读写操作时造成的读出数据丢失的问题。利用该方法,通过使用同步双端口存储器IP和标准单元来设计嵌入式可编程存储器,可减小设计的复杂度、增强设计的可移植性,从而大大缩短嵌入式可编程存储器的开发周期。该文设计的嵌入式可编程存储器采用SMIC 0.18 μm 1P6M CMOS工艺流片。测试结果表明,与相近工艺尺寸、相同存储容量的全定制嵌入式可编程存储器相比,它们在功能上兼容,在性能上相当。 展开更多
关键词 嵌入可编程存储器 选择性寄存 存储器IP 标准单元
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RISC嵌入式系统存储器管理的软件优化 被引量:1
10
作者 董静薇 穆英华 +1 位作者 侯涛 孙博凯 《哈尔滨理工大学学报》 CAS 北大核心 2011年第3期72-76,81,共6页
针对目前嵌入式操作系统的使用中出现的存储器管理和使用效率严重影响嵌入式系统性能的问题,提出了四种对存储器管理进行软件优化的方法:预设存储器访问权限法;强制使用快速上下文切换FCSE法;锁定缓存法;严格遵循底层Linux管理法.仿真... 针对目前嵌入式操作系统的使用中出现的存储器管理和使用效率严重影响嵌入式系统性能的问题,提出了四种对存储器管理进行软件优化的方法:预设存储器访问权限法;强制使用快速上下文切换FCSE法;锁定缓存法;严格遵循底层Linux管理法.仿真实验结果表明:本文提出的软件设计方法可有效优化ARM920T及嵌入式Linux的存储器管理,提高程序运行效率和速度、减小系统开销. 展开更多
关键词 嵌入系统 存储器管理 软件优化 高速缓存 LINUX
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嵌入式系统双口存储器应用研究 被引量:2
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作者 范庆辉 张蕾 阳富民 《计算机工程与设计》 CSCD 北大核心 2008年第12期3085-3087,共3页
在含多CPU的嵌入式系统中,CPU之间的通讯和数据传输是其重要的组成部分。以数字硬盘录像机(DVR)为硬件平台,在简要介绍DVR系统结构和硬件设计的基础上,通过提供双口存储器的驱动程序对基于双口存储器的数字信号处理器(DSP)与CPU之间通... 在含多CPU的嵌入式系统中,CPU之间的通讯和数据传输是其重要的组成部分。以数字硬盘录像机(DVR)为硬件平台,在简要介绍DVR系统结构和硬件设计的基础上,通过提供双口存储器的驱动程序对基于双口存储器的数字信号处理器(DSP)与CPU之间通讯和数据传输进行了研究。通过共享双口存储器的存储单元,有效地实现了DVR系统中对DSP解码过程的控制和音视频数据的传输。 展开更多
关键词 嵌入系统 数字视频录像机 双口存储器 驱动 数字信号处理器
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嵌入式系统的存储器测试方法及其应用 被引量:2
12
作者 丁有志 杨镇西 +1 位作者 王继 朱建军 《信息工程大学学报》 2004年第4期50-53,共4页
文章对嵌入式系统设计中存储器常见问题进行了分析,介绍了一种快速有效的存储器测试方法,并以MPC860通信处理器为CPU的系统为例,详细描述了如何实际应用该测试方法。
关键词 嵌入系统 存储器 MPC860
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基于Flash存储器的嵌入式文件系统设计 被引量:2
13
作者 吉峰 白瑞林 《江南大学学报(自然科学版)》 CAS 2006年第1期1-5,共5页
针对Flash存储器的特点,设计了一种适合开源实时操作的嵌入式文件系统.该系统设计依据日志文件系统原理,实现了Flash存储器和内存中的数据结构及特殊处理机制,并基于μC/OS-II和三星S4510B完成了该文件系统的测试.该嵌入式文件系统可进... 针对Flash存储器的特点,设计了一种适合开源实时操作的嵌入式文件系统.该系统设计依据日志文件系统原理,实现了Flash存储器和内存中的数据结构及特殊处理机制,并基于μC/OS-II和三星S4510B完成了该文件系统的测试.该嵌入式文件系统可进行断电恢复,其代码精简,占用系统资源少,执行效率高,有较高的安全性. 展开更多
关键词 FLASH存储器 嵌入 文件系统
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嵌入式存储器内建自修复电路的一种改进设计 被引量:1
14
作者 王丽 王友仁 施玉霞 《高技术通讯》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期162-166,共5页
研究了存储器内建自测试(MBIST)和存储器自修复(MBISR)技术,改进了基于一维冗余(冗余行块)结构的嵌入式存储器修复策略。首先将存储阵列和冗余阵列划分为多个行块,然后采用存储器自测试方法定位故障单元的行地址和行块地址,最后任何可... 研究了存储器内建自测试(MBIST)和存储器自修复(MBISR)技术,改进了基于一维冗余(冗余行块)结构的嵌入式存储器修复策略。首先将存储阵列和冗余阵列划分为多个行块,然后采用存储器自测试方法定位故障单元的行地址和行块地址,最后任何可利用的冗余块可以被用来修复故障单元。通过16×32比特静态随机存取存储器(SRAM)的电路自修复实验,验证了该修复策略的可行性和较高的故障修复率。与传统的基于一维冗余结构的修复策略相比,该修复策略提高了替代故障单元方法的灵活性和冗余资源利用率,从而提高了存储器的故障修复率。 展开更多
关键词 行块 存储阵列 芯片电子系统 嵌入存储器 自测试 自修复
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基于Flash存储器的嵌入式文件管理器设计 被引量:13
15
作者 罗华春 徐堃 《交通与计算机》 2005年第1期99-102,共4页
叙述了 Flash存储器的特点 ,分析了典型文件系统在嵌入式系统中应用的局限性 ,针对嵌入式系统的特点 ,设计了一种基于 Flash存储器的嵌入式文件管理器 ,提出了类 DOS的结构设计 ,实现了与支持 FAT文件格式的操作系统的数据共享。阐述了... 叙述了 Flash存储器的特点 ,分析了典型文件系统在嵌入式系统中应用的局限性 ,针对嵌入式系统的特点 ,设计了一种基于 Flash存储器的嵌入式文件管理器 ,提出了类 DOS的结构设计 ,实现了与支持 FAT文件格式的操作系统的数据共享。阐述了具体的设计方法 ,并探讨了嵌入式文件管理器的设计思路、方法和技巧。 展开更多
关键词 文件管理器 FLASH存储器 嵌入系统 FAT 文件系统 操作系统 DOS 设计思路 特点 支持
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基于FLASH存储器的嵌入式安全文件系统 被引量:2
16
作者 吴俊军 白喆 《微计算机信息》 北大核心 2007年第32期25-26,13,共3页
Flash存储器具有存储密度高、容量大、价格低廉等优点,因而在嵌入式系统中广泛采用,在嵌入式系统中的数据同样存在着防止数据被非法使用和数据丢失的安全问题。本文将在Flash存储器的基础上实现安全文件系统,在嵌入式环境中实现数据的... Flash存储器具有存储密度高、容量大、价格低廉等优点,因而在嵌入式系统中广泛采用,在嵌入式系统中的数据同样存在着防止数据被非法使用和数据丢失的安全问题。本文将在Flash存储器的基础上实现安全文件系统,在嵌入式环境中实现数据的安全保护。 展开更多
关键词 FLASH存储器 嵌入系统 安全文件系统
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嵌入式只读存储器的内建自测试设计 被引量:3
17
作者 刘峰 《计算机测量与控制》 CSCD 2006年第5期589-591,599,共4页
随着存储器件日益向着高速、高集成方向发展,依靠外部设备对嵌入式存储器的测试变得越来越困难,内建自测试是解决这个问题的有效方法;文中详细分析了存储器的故障表现和诊断算法,给出了嵌入式只读存储器的内建自测试的一种设计实现,同... 随着存储器件日益向着高速、高集成方向发展,依靠外部设备对嵌入式存储器的测试变得越来越困难,内建自测试是解决这个问题的有效方法;文中详细分析了存储器的故障表现和诊断算法,给出了嵌入式只读存储器的内建自测试的一种设计实现,同时研究了将边界扫描技术与只读存储器的内建自测试相结合、形成层次化系统芯片SoC的设计策略。 展开更多
关键词 嵌入只读存储器 内建自测试 故障模型 MARCH算法
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嵌入式存储器测试方法研究 被引量:5
18
作者 李金凤 曹顺 汪滢 《计量与测试技术》 2004年第12期12-14,共3页
本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动态字存储器测试算法。通过Ver ilogHDL语言仿真了一个 2k 4 12 8的故障动态存储器 ,测试时采用存储器的... 本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动态字存储器测试算法。通过Ver ilogHDL语言仿真了一个 2k 4 12 8的故障动态存储器 ,测试时采用存储器的BIST结构 ,实验的结果表明该测试方法对所有故障的覆盖率均为 10 0 %。 展开更多
关键词 嵌入存储器 故障模型 BIST 字内耦合故障 字间耦合故障
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嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证 被引量:3
19
作者 林晓伟 郑学仁 +2 位作者 刘汉华 闾晓晨 万艳 《中国集成电路》 2006年第2期77-80,共4页
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2P... 嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。 展开更多
关键词 嵌入存储器 测试验证 测试算法 BIST 内建自测试 SOC设计 MARCH 体系结构 仿真模型 SRAM
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28SF040闪速存储器及其在嵌入式系统中的应用 被引量:1
20
作者 钱莹 张志荣 曾周末 《单片机与嵌入式系统应用》 2001年第3期52-55,共4页
简要介绍SST公司的SuperFlash存储器28SF040的结构、功能、接口特性、与微控制器的接口方式、内部数据的保护方法以及读写程序等。
关键词 闪速存储器 数据保护 接口特性 28SF040 E^2PROM 嵌入系统 程序设计
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