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微处理器测试系统设计 被引量：1
1
作者 关国梁 李曦 +1 位作者 王恒才 赵振西 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2003年第8期1555-1558,共4页
为了保证微处理器芯片设计的正确性 ,需要进行大量的仿真和测试 ,因此需要一个微处理器测试系统 ,以实现微处理芯片功能的测试和调试 .本文分析了微处理器测试系统的功能。
关键词 微处理器功能测试 测试系统 软硬件协同设计
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RISC微处理器流水线的测试 被引量：6
2
作者 李瑛 高德远 张盛兵 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2005年第6期1110-1112,共3页
现代微处理器的指令都是流水执行,流水线测试也应成为功能测试的一部分.讨论了指令在流水线中的执行以及指令间的依赖关系,给出了NRS4000微处理器的流水线的依赖图及精细依赖图.然后,依据指令在流水线的状态,将指令分成六类,分析了流水... 现代微处理器的指令都是流水执行,流水线测试也应成为功能测试的一部分.讨论了指令在流水线中的执行以及指令间的依赖关系,给出了NRS4000微处理器的流水线的依赖图及精细依赖图.然后,依据指令在流水线的状态,将指令分成六类,分析了流水线中所有可能出现的“写后读”冲突.最后,给出了NRS4000微处理器的流水线测试序列和测试程序. 展开更多
关键词 微处理器测试 流水线 流水线冲突
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基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究 被引量：1
3
作者 荀庆来 邝继顺 《科学技术与工程》 2006年第13期1808-1815,共8页
全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性。实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图(ADD),然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列... 全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性。实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图(ADD),然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列,并用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流。实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的。通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。 展开更多
关键词 全速电流测试 微处理器测试 赋值判决图 指令序列
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用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究
4
作者 荀庆来 邝继顺 闵应骅 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2007年第3期479-486,共8页
全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方... 全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误. 展开更多
关键词 全速电流测试 瞬态电流测试 微处理器测试 指令序列
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龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 被引量：2
5
作者 齐子初 刘慧 +1 位作者 石小兵 韩银和 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第11期2021-2028,2036,共9页
龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方... 龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方面进行了详细分析.针对龙芯3号测试功耗主要消耗在逻辑电路的翻转和测试时钟网络上的特点,采用IP级测试分割技术减少逻辑电路和时钟网络的翻转;采用门控时钟对局部扫描触发器进行控制减少单核扫描捕获期间的逻辑翻转,并采用了阻隔门技术、不关心位(X位)填充技术减少单核扫描移位的逻辑翻转.实验结果表明,龙芯3号4核处理器达到了预定小于15W的测试平均功耗需求,单个IP核最大平均功耗降低为6W左右,约是正常功能平均功耗的40%,有效地保证了芯片的测试质量. 展开更多
关键词 低功耗测试 微处理器测试 多核微处理器测试 基于IP的测试
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SPARC体系结构处理器测试方法研究与实现 被引量：1
6
作者 张晓静 华更新 刘鸿瑾 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2011年第3期512-515,共4页
处理器离线测试广泛采用随机测试技术,但是随机测试技术生成大量测试代码,并且测试覆盖率不高;主要针对随机测试的不足,借鉴基于软件内建自测试方法建立处理器模块级于系统级功能模型,后分析功能模型可能发生错误,针对错误模型开发测试... 处理器离线测试广泛采用随机测试技术,但是随机测试技术生成大量测试代码,并且测试覆盖率不高;主要针对随机测试的不足,借鉴基于软件内建自测试方法建立处理器模块级于系统级功能模型,后分析功能模型可能发生错误,针对错误模型开发测试代码来提高错误覆盖率;经测试,模块级测试覆盖到所有功能点,达到功能模块100%测试,系统级的测试覆盖到SPARC V8的所有指令异常、正常测试用例;测试结果表明,所采取的测试方案对提高错误覆盖率是行之有效的。 展开更多
关键词 微处理器测试 指令集测试 伪随机测试.
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集成电路故障测试研究
7
作者 吴周勇 《科技资讯》 2008年第9期73-74,共2页
基于固定型故障模型的传统电压测试技术是一种应用最广、最为重要的测试技术,且已经应用多年。但是随着集成电路日新月异地发展,电压测试技术越来越不能完全满足高性能IC,特别是高性能数字CMOSIC发展的需求。为了提高故障覆盖率和降低... 基于固定型故障模型的传统电压测试技术是一种应用最广、最为重要的测试技术,且已经应用多年。但是随着集成电路日新月异地发展,电压测试技术越来越不能完全满足高性能IC,特别是高性能数字CMOSIC发展的需求。为了提高故障覆盖率和降低测试成本,本文探讨了一些方法的可行性。 展开更多
关键词 全速电流测试 微处理器测试 赋值判决图 指令序列 测试生成
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新版CPU-Z 1.29版（免费版）
8
《电子制作．电脑维护与应用》 2005年第7期55-55,共1页
CPU-Z是一个检测CPU信息的免费软件，这是信息包括：CPU名称，厂商，性能，当前电压，L1 L2 cache情况；内核进程，内部和外部时钟等，支持全系列的Intel以及AMD品牌的CPU。
关键词 CPU-Z 1.29版 微处理器测试软件 工具软件 CPU
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传感器与专用测量设备
9
《电子科技文摘》 1999年第8期98-98,共1页
关键词 传感器 测量设备 纸浆浓度变送器 线路维护 专用 测试仪 微处理器测试 广播电视 信号板 测量中心
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