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基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器 被引量：1
1
作者 王树朋 黄凯 严晓浪 《浙江大学学报（工学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第3期580-588,共9页
为了更好地建立覆盖率和测试产生器之间的联系,产生高质量的测试,提出基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器.该测试产生器利用一种简单、准确的测试编码方法对测试进行编码,并利用基于功能覆盖率的适应度函数评估测试的优劣.通过遗传算法... 为了更好地建立覆盖率和测试产生器之间的联系,产生高质量的测试,提出基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器.该测试产生器利用一种简单、准确的测试编码方法对测试进行编码,并利用基于功能覆盖率的适应度函数评估测试的优劣.通过遗传算法(GA)建立覆盖率与测试产生器之间的联系,分析覆盖率和测试之间的关系,根据分析结果改变测试产生器的约束和限制,驱动测试产生器生成新一代的测试,新一代的测试可以覆盖到上一代的测试无法覆盖的功能点.实验结果表明:在2个高性能的32位多核处理器的验证环境中,该测试产生器可以明显减少仿真时间,提高验证效率. 展开更多
关键词 覆盖率 测试产生器 遗传算法(GA) 覆盖率驱动测试产生器 适应度函数
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一种低功耗BIST测试产生器方案 被引量：11
2
作者 何蓉晖 李晓维 宫云战 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2003年第2期36-39,共4页
低功耗设计呼唤低功耗的测试策略。文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试测试产生器方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单... 低功耗设计呼唤低功耗的测试策略。文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试测试产生器方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单输入跳变的测试向量集,使得待测电路的平均功耗大大降低。给出了以ISCAS’85/89部分基准电路为对象的实验结果,电路的平均测试功耗降幅在54.4%～98.0%之间,证明了该方案的有效性。 展开更多
关键词 BIST 低功耗设计 内建自测试 测试产生器 线性反馈移位寄存器 集成电路
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基于IEEE1445标准的电路故障诊断技术研究 被引量：4
3
作者 陈亮 魏蛟龙 史慧 《信息技术与标准化》 2003年第12期30-33,共4页
介绍了数字测试交换标准(IEEE1445)的内容,描述了基于该标准的三种诊断方式,重点介绍了利用故障字典诊断法完成电路板诊断的一种实现方案。
关键词 IEEE1445标准 自动测试设备 自动测试程序产生器 被测试单元 数字测试交换标准 电路故障诊断
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