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IEEE754标准浮点测试向量的生成 被引量：2
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作者 何立强 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第19期38-39,64,共3页
介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施。
关键词 IEEE754 测试 测试向量 差错覆盖率 浮点功能部件
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