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基于确定性测试集的数字集成电路随机测试 被引量：3
1
作者 谢永乐 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期576-578,共3页
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高... 提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性 。 展开更多
关键词 确定性测试集 加权随机测试 自动测试生成器 多权集 数字集成电路 故障诊断
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基于优化权集的数字集成电路随机测试
2
作者 谢永乐 陈光 《四川大学学报（工程科学版）》 EI CAS CSCD 2002年第4期104-107,共4页
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生... 提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生成概率的测试矢量数 ,进而减小在高故障覆盖率下的测试长度 。 展开更多
关键词 自动测试生成器 多权集 生成概率 故障诊断 优化权集 数字集成电路 随机测试
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