期刊文献+
共找到6篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
高功率密度自对准结构AlGaAs/GaAs异质结双极晶体管 被引量:6
1
作者 严北平 张鹤鸣 戴显英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期247-250,共4页
利用各向异性的湿法刻蚀和侧墙隔离技术实现了发射极金属和基极金属的自对准 ,采用该自对准技术成功地研制出了自对准结构的 Al Ga As/ Ga As异质结双极晶体管 ,器件直流电流增益大于 2 0 ,电流增益截止频率 f T 大于30 GHz,最高振荡频... 利用各向异性的湿法刻蚀和侧墙隔离技术实现了发射极金属和基极金属的自对准 ,采用该自对准技术成功地研制出了自对准结构的 Al Ga As/ Ga As异质结双极晶体管 ,器件直流电流增益大于 2 0 ,电流增益截止频率 f T 大于30 GHz,最高振荡频率 fmax大于 5 0 GHz,连续波功率测量表明 :在 1d B增益压缩时 ,单指 HBT可以提供 10 0 m W输出功率 ,对应的功率密度为 6 .6 7W/ m m,功率饱和时最大输出功率 112 m W,对应功率密度为 7.48W/ m m,功率附加效率为 6 7% 展开更多
关键词 自对准结构 高功率密度 异质结双极晶体管 ALGAAS/GAAS 砷化镓
在线阅读 下载PDF
台面型自对准结构AlGaAs/GaAs HBT的工艺研究
2
作者 许军 周文益 +1 位作者 刘佑宝 黄敞 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1993年第10期40-43,共4页
本文提出了一种台面型全自对准结构AlGaAs/GaAs HBT的制造方案,对其中的欧姆接触金属系统的制备.AlGaAs/GaAs材料的选择性腐蚀及聚酰亚胺的反应离子刻蚀终点监控等关键工艺技术进行了研究。并给出了应用该工艺研制的HBT器件的初步结果.
关键词 双极性晶体管 自对准结构 工艺 HBT
在线阅读 下载PDF
基于a-IGZO型OLED的顶栅自对准TFT结构中遮光层的研究
3
作者 高颖 周星宇 《光电子技术》 CAS 北大核心 2020年第4期302-307,共6页
顶栅自对准(Top-gate self aligned)结构的a-IGZO TFT器件具有较小的寄生电容,适用于驱动OLED(Organic light emitting diode)显示器。为了增加TFT器件在光照条件下的稳定性,驱动OLED的TFT(Thin film transistors)器件通常需要加入遮光... 顶栅自对准(Top-gate self aligned)结构的a-IGZO TFT器件具有较小的寄生电容,适用于驱动OLED(Organic light emitting diode)显示器。为了增加TFT器件在光照条件下的稳定性,驱动OLED的TFT(Thin film transistors)器件通常需要加入遮光层。文章对遮光层的作用、遮光层信号连接方式、缓冲层厚度以及遮光层尺寸的选择进行了探究。结果表明:(1)遮光层可以有效降低TFT因为光照射造成的阈值电压负偏;(2)遮光层连接电讯号电性会更稳定,并且信号连接到源极,驱动电流更容易饱和,最适合驱动OLED;(3)缓冲层厚度选择400μm的器件性能较好;(4)在设计允许的情况下,遮光层应尽可能多的遮挡IGZO,以改善器件的稳定性。 展开更多
关键词 顶栅自对准结构 有机发光二极管显示器 遮光层
在线阅读 下载PDF
1.55μm InGaAsP-MQW自对准压缩台面高速DFB激光器 被引量:2
4
作者 张静媛 刘国利 +4 位作者 朱洪亮 周帆 孙洋 汪孝杰 王圩 《高技术通讯》 EI CAS CSCD 2002年第2期51-53,57,共4页
采用一种自对准压缩台面结构制作高速 1.5 5 μmDFB激光器。激光器的典型阈值为 12mA ,单面斜率效率达 0 .15 7mW /mA ,出光功率大于 2 0mW。由于采用窄条p InP作为电流阻挡层 ,因此激光器的寄生电容可降至 2 .5 pF ,- 3dB调制带宽可达 9.
关键词 自对准压缩台面结构 DFB激光器 高速激光器 多量子阱 局域网
在线阅读 下载PDF
一种单层多晶硅BiCMOS工艺研究
5
作者 周均 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1999年第1期10-14,共5页
介绍了一种单层多晶硅CMOS工艺。该工艺采用P型衬底、N型P型双埋层、N型薄外延结构,掺杂多晶硅作为CMOS晶体管栅极和双极NPN晶体管的发射极。CMOS晶体管采用源漏自对准结构,钛和铝双层金属作为元件互连线,PEC... 介绍了一种单层多晶硅CMOS工艺。该工艺采用P型衬底、N型P型双埋层、N型薄外延结构,掺杂多晶硅作为CMOS晶体管栅极和双极NPN晶体管的发射极。CMOS晶体管采用源漏自对准结构,钛和铝双层金属作为元件互连线,PECVDSiNx介质作为钝化薄膜。 展开更多
关键词 半导体工艺 BICMOS 自对准结构 多晶硅发射极
在线阅读 下载PDF
Structure Design Considerations of a Sub-50nm Self-Aligned Double-Gate MOSFET
6
作者 殷华湘 徐秋霞 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第12期1267-1274,共8页
A comprehensive way to design a sub 50nm SADG MOSFET with the ability of being fabricated by improved CMOS technique is described.Under this way,the gate length and thickness of Si island of DG device show many diffe... A comprehensive way to design a sub 50nm SADG MOSFET with the ability of being fabricated by improved CMOS technique is described.Under this way,the gate length and thickness of Si island of DG device show many different scaling limits for various elements.Meanwhile,the spacer insulator shows a kind of width thickness on device drain current and circuit speed.A model about that effect is developed and offers design consideration for future.A new design of channel doping profile,called SCD,is also discussed here in detail.The DG device with SCD can achieve a good balance between the volume inversion operation mode and the control of V th .Finally,a guideline to make a SADG MOSFET is presented. 展开更多
关键词 double gate MOSFET structure design sidewall effect SCD
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部