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光栅衍射实验的最小衍射角法 被引量：4
1
作者 梁礼正 《工科物理》 1997年第2期49-51,共3页
光栅未能严格垂直于入射光放置时将形成误差．光栅放置成其法线与入射光方向的夹角为衍射角的一半时，衍射角为最小值．在最小衍射角的位置上完成光栅衍射实验，可以消去在光栅垂直放置时的１、２阶误差，此外还观察到对实验有利的现象... 光栅未能严格垂直于入射光放置时将形成误差．光栅放置成其法线与入射光方向的夹角为衍射角的一半时，衍射角为最小值．在最小衍射角的位置上完成光栅衍射实验，可以消去在光栅垂直放置时的１、２阶误差，此外还观察到对实验有利的现象：衍射明纹光强增大和级次增多． 展开更多
关键词 光栅 衍射实验 衍射角 衍射光学
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衍射角对准聚焦常规法正负ψ应力测试精度的影响
2
作者 陈瑾 徐可为 何家文 《理化检验（物理分册）》 CAS 1991年第5期43-45,49,共4页
关键词 衍射角 准聚焦常规法 应力 测试
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多晶X射线衍射仪衍射角示值误差测量方法解析 被引量：1
3
作者 龚飞雁 陈永康 《上海计量测试》 2018年第1期19-21,共3页
论述了JJG 629—2014《多晶X射线衍射仪》检定规程中衍射角示值误差的测量方法,分析了测量过程中的技术关键及其对结果的影响。评估了衍射角示值误差测量的不确定度,结果小于示值误差限的三分之一,能够满足合格评定的要求。
关键词 多晶X射线衍射仪 衍射角
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光栅旋转对衍射角改变量及波长的影响 被引量：2
4
作者 牛彦彦 《大学物理实验》 2023年第1期59-62,共4页
理论分析了光栅在分光计的水平载物台上旋转一定角度后对衍射角改变量的影响,并通过Matlab软件作曲面图直观观察衍射角改变量随光栅旋转角度和衍射角增大的变化,将实验测量数据与理论推导进行了对比,发现光栅旋转一定角度后,计算波长所... 理论分析了光栅在分光计的水平载物台上旋转一定角度后对衍射角改变量的影响,并通过Matlab软件作曲面图直观观察衍射角改变量随光栅旋转角度和衍射角增大的变化,将实验测量数据与理论推导进行了对比,发现光栅旋转一定角度后,计算波长所用衍射角的改变量随着衍射角的增大而增大,且会对光波波长的计算造成一定误差。 展开更多
关键词 光栅 衍射角 波长
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光栅方程的修正和衍射角的符号法则
5
作者 顾运厅 《河池师专学报》 1993年第3期32-35,共4页
分析光学传统教材中光栅方程所存在的矛盾和混乱,给出修正了的光栅方程和衍射角的符号法则,物理图象清晰,方程对称完美,消除了原光栅方程的矛盾和混乱。
关键词 光学 单缝衍射 光栅方程 修正 衍射角 符号法则
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全息位相差放大中缩小衍射角的方法
6
作者 陈建文 高鸿奕 +1 位作者 李儒新 徐至展 《科技开发动态》 2005年第6期42-43,共2页
编号：0506232 该发明专利是一种全息位相差放大中缩小衍射角的方法。
关键词 位相差放大 衍射角 全息 发明专利
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基于掠入射二维X射线衍射的陶瓷应力实验表征方法
7
作者 王硕 王宗 +6 位作者 孙容 张若飞 李伟杰 丛熙 聂志华 仇巍 富东慧 《实验力学》 CSCD 北大核心 2024年第5期580-589,共10页
陶瓷材料被广泛应用于航空航天关键部件的防护涂层以及功率半导体的封装材料。陶瓷材料在服役过程中受环境因素的影响会产生较大的残余应力,这是其破坏失效的主要原因。因此,发展适用于陶瓷材料应力的无损检测方法对其服役安全具有重要... 陶瓷材料被广泛应用于航空航天关键部件的防护涂层以及功率半导体的封装材料。陶瓷材料在服役过程中受环境因素的影响会产生较大的残余应力,这是其破坏失效的主要原因。因此,发展适用于陶瓷材料应力的无损检测方法对其服役安全具有重要意义。X射线衍射(XRD)技术是一种无损、高精度的应力测试方法,在分析材料失效和优化制备工艺方面具有重要作用。然而,目前常用的X射线衍射应力分析方法和装置难以满足陶瓷材料应力快速且精准的测量需求。为此,本文提出了一种基于掠入射二维X射线衍射(GI-XRD~2)原理,采用低衍射角衍射环单次曝光的二维X射线衍射应力快速表征方法,并搭建了前向衍射的实验装置。本文基于大气等离子喷涂(APS)技术制备了8wt.%Y_(2)O_(3)稳定ZrO_(2)(8YSZ)陶瓷样品,通过实验验证了提出方法的有效性、适用性,并分析了其在兼容性、效率、灵敏度等方面相比当前其他相关方法与仪器的特点与优势。 展开更多
关键词 掠入射二维X射线衍射 陶瓷材料 实验应力分析 低衍射角衍射环
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太阳辐照度测量中孔径光阑衍射效应
8
作者 余杰玲 董航 +7 位作者 衣小龙 林雨辰 王思龙 苗庆祥 孙瑞 高展鹏 方伟 叶新 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第15期2363-2373,共11页
针对当前在辐照度测量中对孔径光阑衍射效应的评估仍停留在理论计算层面,无法评估衍射修正结果不确定度的现状,研究了光阑衍射效应实验检测方法,以校正孔径光阑的衍射效应并提升太阳总辐照度的测量精度。基于暗场成像技术和夫琅和费远... 针对当前在辐照度测量中对孔径光阑衍射效应的评估仍停留在理论计算层面,无法评估衍射修正结果不确定度的现状,研究了光阑衍射效应实验检测方法,以校正孔径光阑的衍射效应并提升太阳总辐照度的测量精度。基于暗场成像技术和夫琅和费远场衍射理论,设计孔径光阑的衍射效应检测方法,开展检测实验,通过研究探测器线性度标定、背景信号校正、衍射图像数据分析等,建立数据修正处理流程,获取孔径光阑在前结构的太阳绝对辐射计衍射效应值,并对实验结果进行不确定度分析。测试结果显示:衍射效应测量值为8.81×10^(-4),合成不确定度为6.49%。研究成果将为我国下一代风云气象卫星太阳辐射监测仪衍射效应的精确校正及实现高精度太阳总辐照度的测量奠定关键技术基础。 展开更多
关键词 衍射效应 孔径光阑 衍射角 图像校正
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晶体材料内部衍射用基准零应力铝粉标准试样的制备及校准
9
作者 吴林阳 计鹏飞 +3 位作者 杨竞涵 张津 郑林 窦世涛 《理化检验（物理分册）》 CAS 2024年第9期24-29,共6页
采用黏接铝粉的方式制备了一种晶体材料内部衍射用基准零应力铝粉标准试样,采用短波长特征X射线衍射仪对试样的均匀性、各向同性、内部残余应力进行测试,采用不同残余应力测试方法和不同计算方法对试样表面及内部应力进行验证。结果表明... 采用黏接铝粉的方式制备了一种晶体材料内部衍射用基准零应力铝粉标准试样,采用短波长特征X射线衍射仪对试样的均匀性、各向同性、内部残余应力进行测试,采用不同残余应力测试方法和不同计算方法对试样表面及内部应力进行验证。结果表明:该试样不同部位、不同方向的衍射强度偏差都小于10%,具备均匀性和各向同性,表面和内部残余应力也都为-25~25MPa。 展开更多
关键词 残余应力 零应力试样 铝粉 各向同性 衍射角
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液晶衍射光栅的理论分析 被引量：8
10
作者 王丽 张成 +2 位作者 幺周石 黄子强 卢亚雄 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第2期113-118,共6页
在液晶指向矢计算的基础上,得到了向列相液晶在电场下折射率分布和相位延迟。并在矩形光栅和正弦相位光栅的基础上,分析了液晶衍射光栅对入射光一级衍射情况及其衍射效率,得到了15°左右的衍射角,且衍射效率达到40%。
关键词 液晶衍射光栅 折射率 相位差 衍射效率 衍射角
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光栅衍射实验操作的探讨 被引量：3
11
作者 吴大艳 丁成祥 孙文斌 《安徽工业大学学报（自然科学版）》 CAS 2008年第1期104-106,共3页
针对光栅衍射实验中出现的操作问题,讨论在满足计算公式的条件下,对分光计的正确调节。
关键词 光栅 衍射角 分光计
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光栅衍射实验现象引发的新思考 被引量：10
12
作者 刘春平 宋汉阁 《大学物理实验》 2004年第1期22-25,共4页
实验中发现平面衍射光栅各级明条纹的亮度随衍射角和入射角的变化而变化 ,这与理想状况下光强公式存在较为明显的歧离 ,其原因是公式推导过程中忽略了入射角和衍射角变化所带来的影响 ,考到这些倾斜因素 ,对平面衍射光栅光强公式做了理... 实验中发现平面衍射光栅各级明条纹的亮度随衍射角和入射角的变化而变化 ,这与理想状况下光强公式存在较为明显的歧离 ,其原因是公式推导过程中忽略了入射角和衍射角变化所带来的影响 ,考到这些倾斜因素 ,对平面衍射光栅光强公式做了理论上的修正 ,得出了更普遍更准确的光强公式。 展开更多
关键词 光栅衍射实验 平面衍射光栅 衍射角 光强 夫琅和费衍射实验 狭缝宽度
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夫琅和费衍射与大角度衍射 被引量：4
13
作者 孙桂林 《光学技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第3期466-468,共3页
众所周知,夫琅和费衍射的解析强度分布和暗纹位置是在一系列近似情况下导出的。其中最重要的条件是观测点必须限制在傍轴附近,衍射角不能太大,否则得不到简单的解析公式,也就不能称之为夫琅和费衍射。最近发现有人发明错误的理论将夫琅... 众所周知,夫琅和费衍射的解析强度分布和暗纹位置是在一系列近似情况下导出的。其中最重要的条件是观测点必须限制在傍轴附近,衍射角不能太大,否则得不到简单的解析公式,也就不能称之为夫琅和费衍射。最近发现有人发明错误的理论将夫琅和费衍射概念及其测量扩展到90°角,其结论与常识截然相反,因此,有必要把混淆的概念予以澄清。 展开更多
关键词 夫琅和费衍射 衍射角 测量
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进口X射线衍射仪的计算机数据截获系统 被引量：4
14
作者 周甫方 丁劲良 +2 位作者 石新海 苏君海 戴军 《汕头大学学报（自然科学版）》 2002年第1期21-26,共6页
某些进口 X射线衍射仪存在一个棘手的问题 ,即用户无法读取衍射仪所产生的强度——衍射角的原始数据 ,无法做任何系统误差校正 ,如 Rietveld方法所要求 .本文提出一种新颖的软硬件设计方案 :X射线衍射仪的计算机数据截获系统 ,它能有效... 某些进口 X射线衍射仪存在一个棘手的问题 ,即用户无法读取衍射仪所产生的强度——衍射角的原始数据 ,无法做任何系统误差校正 ,如 Rietveld方法所要求 .本文提出一种新颖的软硬件设计方案 :X射线衍射仪的计算机数据截获系统 ,它能有效地截获在线数据 ,该方案不仅能成功的解决上述衍射仪的问题 ,而且对于改装类似的谱仪类仪器也提供了一个有普遍意义的新思路。 展开更多
关键词 X射线衍射仪 计算机数据截获系统 衍射角 截获强度 数据采集系统 软件开发 硬件开发
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单缝夫琅和费衍射光强分布的3种计算方法 被引量：5
15
作者 姜丽娜 《辽宁科技大学学报》 CAS 2011年第2期123-128,共6页
运用三角函数,采用积分法和数值计算定量计算了夫琅和费衍射光强分布,并用给出了定量计算结果。计算结果表明,菲涅尔半波带法所得暗纹公式和中央零级明纹是精确值,而明纹公式则是近似值;本文结果与振幅矢量法的结果相同。
关键词 单缝夫琅和费衍射光强分布 衍射角 电场强度
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X射线衍射仪系统误差校正曲线的研究 被引量：1
16
作者 黄佶 韩锡贵 《理化检验（物理分册）》 CAS 1997年第12期14-15,30,共3页
提出了用多个标准样品的X射线衍射角数据共同拟合一条系统误差曲线的方法。并用此方法求得CaCO_3粉末晶体的点阵参数,同理论标准点阵参数值作了相对误差分析,结果表明:在相同测角准确度下,与单标样法相比,用多标法校正后的一组衍射角数... 提出了用多个标准样品的X射线衍射角数据共同拟合一条系统误差曲线的方法。并用此方法求得CaCO_3粉末晶体的点阵参数,同理论标准点阵参数值作了相对误差分析,结果表明:在相同测角准确度下,与单标样法相比,用多标法校正后的一组衍射角数据所求得的点阵参数的相对误差大大降低。 展开更多
关键词 多标样 单标样 X射线 衍射角数据 校正曲线
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光栅衍射光谱的非线性研究 被引量：1
17
作者 陈艳山 李玉华 鲍烈 《光散射学报》 2006年第1期85-88,共4页
当汞灯发出的复色平行光斜入射光栅面时,发现衍射光谱位置并不随光谱的不同而线性分布。本文对测量数据进行了相应的理论分析,得出光栅光谱的非线性特征。
关键词 分光计 衍射角 最小偏向角
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复合多晶薄膜的X射线衍射正比分析 被引量：1
18
作者 孙大明 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1991年第1期10-14,共5页
通过对Cu/Ag、Ag/Al和Al/Cu复合多晶薄膜各组分之间的X射线衍射强度之比与已知薄膜厚度之比的分析,得出了衍射强度与薄膜厚度之间存在着近似的线性关系。X射线衍射强度因子比的实验结果与理论计算值之间,相差50%左右。文章对造成这一差... 通过对Cu/Ag、Ag/Al和Al/Cu复合多晶薄膜各组分之间的X射线衍射强度之比与已知薄膜厚度之比的分析,得出了衍射强度与薄膜厚度之间存在着近似的线性关系。X射线衍射强度因子比的实验结果与理论计算值之间,相差50%左右。文章对造成这一差异的可能原因,做了初步讨论。 展开更多
关键词 多晶薄膜 X射线衍射 衍射强度 薄膜厚度 射线束 衍射角 择优取向 复合膜 强度因子 多晶膜
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光栅衍射中谱线缺级问题探讨 被引量：3
19
作者 魏秀芳 张国恒 《西北民族大学学报（自然科学版）》 2003年第2期19-20,共2页
通过对光栅衍射的谱线缺级现象进行讨论。
关键词 光栅衍射 谱线缺级 光学 光栅常数 光栅缝宽 衍射角 振幅 谱线强度
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角谱理论用于衍射光学元件数字仿真
20
作者 殷可为 黄智强 +1 位作者 林妩媚 邢廷文 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2012年第4期125-128,135,共5页
本文采用衍射角谱理论对衍射光学元件的光场分布进行数字计算。该理论包括两种表达方式:既可用含有传递函数的等式表达,也可用含有点扩散函数的等式表达。这两种计算方法在本质上是一致的。然而,在MATLAB计算过程中,它们又具有不同的适... 本文采用衍射角谱理论对衍射光学元件的光场分布进行数字计算。该理论包括两种表达方式:既可用含有传递函数的等式表达,也可用含有点扩散函数的等式表达。这两种计算方法在本质上是一致的。然而,在MATLAB计算过程中,它们又具有不同的适用条件,通过分析,将它们分为近场算法和远场算法,并且展示了它们的计算实例。结果表明,在标量衍射理论成立的条件下,不改变衍射元件抽样间隔和抽样点数,利用这两种算法能够快速、准确计算不同位置处的衍射图样。该方法对衍射光学元件像面光场分布的精确计算具有重要的意义。 展开更多
关键词 衍射角谱理论 傅里叶变换 抽样定理 衍射光学元件 MATLAB
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