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Si(113)表面电子结构的研究
1
作者
张瑞勤
王家俭
+3 位作者
戴国才
吴汲安
张敬平
邢益荣
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第9期645-652,共8页
采用Si_(16)H_(21)和Si_(31)H_(39)原子集团分别模拟Si(113)和Si(111)表面;通过半经验自洽CNDO法计算了两个体系的电子结构.结果表明,Si(113)具有与Si(111)不同的表面态特征.Si(113)表面台阶和台面原子上电荷重新分布,与悬键相关的表面...
采用Si_(16)H_(21)和Si_(31)H_(39)原子集团分别模拟Si(113)和Si(111)表面;通过半经验自洽CNDO法计算了两个体系的电子结构.结果表明,Si(113)具有与Si(111)不同的表面态特征.Si(113)表面台阶和台面原子上电荷重新分布,与悬键相关的表面电子态都强烈地定域在表面Si原子上,尤其局域在悬键方向上,并且具有比(111)面上更高的悬健态密度.理论计算结果能解释以前的光电子谱实验.
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关键词
硅
表面悬键态
电子结构
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职称材料
题名
Si(113)表面电子结构的研究
1
作者
张瑞勤
王家俭
戴国才
吴汲安
张敬平
邢益荣
机构
山东大学物理系
中国科学院半导体研究所
中国科学院半导体研究所中国科学院表面物理实验室中国科学院海南分院
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第9期645-652,共8页
基金
国家自然科学基金
文摘
采用Si_(16)H_(21)和Si_(31)H_(39)原子集团分别模拟Si(113)和Si(111)表面;通过半经验自洽CNDO法计算了两个体系的电子结构.结果表明,Si(113)具有与Si(111)不同的表面态特征.Si(113)表面台阶和台面原子上电荷重新分布,与悬键相关的表面电子态都强烈地定域在表面Si原子上,尤其局域在悬键方向上,并且具有比(111)面上更高的悬健态密度.理论计算结果能解释以前的光电子谱实验.
关键词
硅
表面悬键态
电子结构
Keywords
Si
High-Miller-index surface
Dangling-bond surface states
Density of state
Localization
分类号
TN301 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Si(113)表面电子结构的研究
张瑞勤
王家俭
戴国才
吴汲安
张敬平
邢益荣
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989
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