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能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W(钨)含量 被引量:6
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作者 张庆贤 葛良全 +3 位作者 杨年 乔鹏 米争锋 谷懿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期887-890,共4页
采用IED-2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量。对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,... 采用IED-2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量。对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现半定量分析,为野外现场W元素测量提供了方法。 展开更多
关键词 野外x射线荧光分析 化探样品 W含量 FFT本底扣除算法 直接解调方法
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