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题名一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法
被引量：4
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作者
肖杰
江建慧
朱旭光
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机构
浙江工业大学计算机科学与技术学院
同济大学软件学院
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出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第7期1508-1520,共13页
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基金
国家自然科学基金(60903033)
国家"九七三"重点基础研究发展规划项目基金(2005CB321604)资助~~
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文摘
纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算中的优势与不足,文中提出了宏门的概念和以宏门为单位的迭代概率转移矩阵模型,并设计了相应的电路可靠性评估算法,可计算从原始输入到任意引线位置的电路可靠度,该算法的复杂性与宏门的数目成线性关系.理论分析与在74系列电路和ISCAS85基准电路上的实验结果证明了文中所提方法的准确性、有效性及潜在的应用价值.
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关键词
门级电路可靠性评估
宏门
逻辑划分
概率方法
迭代概率转移矩阵模型
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Keywords
gate-level circuit reliability estimation
macro-gate ； logical partitioning
probabilisticmethod
iterative probabilistic transfer matrix model
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分类号
TP331
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名结合版图结构信息的基本门电路故障概率估计
被引量：6
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作者
肖杰
江建慧
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机构
同济大学计算机科学与技术系
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第2期235-240,共6页
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基金
国家科技部973计划(No.2005CB321604)
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文摘
在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算法,并推导出了P的计算模型.理论分析与在ISCAS85及74系列电路上的实验结果表明,缺陷的分段线性插值模型能较准确地描述电路可靠性模型的低层真实缺陷.对ISCAS85基准电路采用本文方法所得到的电路可靠度与采用美国军用标准MIL-HDBK-217方法所得到的计算结果进行了比较,验证了本文所建P模型的合理性.
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关键词
缺陷模型
缺陷粒径概率分布
版图结构信息
基本门故障概率
门级电路可靠性评估
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Keywords
defect model
probability distribution of defect size
layout structure information
fault probability of elementary gate
evaluation of gate-level circuit reliability
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分类号
TP331
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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