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基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案
1
作者 陈田 梁华国 +3 位作者 易茂祥 王伟 黄正峰 张敏生 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期722-730,共9页
大规模高密度的集成电路在测试中面临着测试数据量大、测试时间长和测试功耗高的问题.为此提出了一种基于随机访问扫描(random access scan,RAS)的混合模式测试体系结构,该测试方法先通过自动测试模式生成一个确定测试集,再将确定测试... 大规模高密度的集成电路在测试中面临着测试数据量大、测试时间长和测试功耗高的问题.为此提出了一种基于随机访问扫描(random access scan,RAS)的混合模式测试体系结构,该测试方法先通过自动测试模式生成一个确定测试集,再将确定测试集嵌入片上生成的测试序列中进行确定性测试.测试分两个阶段进行,第一阶段利用块固定折叠计数器生成的具有块固定特征的测试模式序列,测试电路中的大部分故障;第二阶段,通过位跳变方法生成确定测试模式,测试剩余的难测故障.在ISCAS-89基准电路上的实验结果表明,该方案不仅减少了测试存储量和测试时间,而且有效地降低了测试功耗. 展开更多
关键词 BFF计数器 随机访问扫描 确定性测试 低功耗
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基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案 被引量：2
2
作者 梁华国 祝沈财 +1 位作者 陈田 张念 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期2418-2422,共5页
大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大,测试时间长等问题.对此,本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案.该方案利用RAS(Random access scan)结构控制经输入精简的扫描单元,先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障,然后... 大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大,测试时间长等问题.对此,本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案.该方案利用RAS(Random access scan)结构控制经输入精简的扫描单元,先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障,然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量.本方案生成的折叠集故障检测率高,所需控制数据少.实验数据表明与同类方法相比,本方案能有效减少测试数据量和测试时间. 展开更多
关键词 输入精简 折叠计数器 数据压缩 随机访问扫描
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应用段固定折叠计数器的低功耗测试方案
3
作者 陈田 梁华国 +2 位作者 张敏生 王伟 易茂祥 《应用科学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期399-405,共7页
提出了一种低功耗的测试模式生成方法,采用段固定折叠计数器将确定的测试立方集嵌入片上生成的测试模式序列中.该测试模式生成器需要依赖随机访问扫描体系结构,测试时新的测试模式可直接载入扫描单元而不需要经过扫描移位.基于ISCAS-89... 提出了一种低功耗的测试模式生成方法,采用段固定折叠计数器将确定的测试立方集嵌入片上生成的测试模式序列中.该测试模式生成器需要依赖随机访问扫描体系结构,测试时新的测试模式可直接载入扫描单元而不需要经过扫描移位.基于ISCAS-89基准电路的实验表明,该文提出的方案可以有效降低测试数据量、测试应用时间和测试功耗. 展开更多
关键词 段固定 随机访问扫描 数据压缩 低功耗
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一种基于改进RAS架构的SOC测试方法
4
作者 欧阳一鸣 杨倩 梁华国 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第5期552-557,共6页
为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题,提出一种基于random access scan架构的SOC测试方法.该方法通过改进扫描单元的结构,减少了硬件开销,同时利用列地址信号来控制测试过程,减少测试数据... 为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题,提出一种基于random access scan架构的SOC测试方法.该方法通过改进扫描单元的结构,减少了硬件开销,同时利用列地址信号来控制测试过程,减少测试数据量和测试时间.在ISCAS 89基准电路上进行的实验表明,该方法与传统的串行扫描技术相比,平均数据压缩率可以达到55%,测试速度提升2倍以上,同时,其测试的平均功耗几乎可以忽略不计. 展开更多
关键词 随机访问扫描 测试数据量 测试功耗 测试时间
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基于数据相容压缩的RAS测试方法
5
作者 欧阳一鸣 杨倩 梁华国 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期254-256,共3页
提出一种随机存取扫描测试方法,对扫描单元进行相容处理,以形成新的测试集合。结合Random Access Scan结构特性,对该测试集合进行优化,同时解决在测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间等3方面问题。在ISCAS’89基准电路上对... 提出一种随机存取扫描测试方法,对扫描单元进行相容处理,以形成新的测试集合。结合Random Access Scan结构特性,对该测试集合进行优化,同时解决在测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间等3方面问题。在ISCAS’89基准电路上对该方法进行验证,实验结果表明,该方法是有效可行的。 展开更多
关键词 相容性 随机访问扫描 测试功耗
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