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集成电路测试新工科人才产教融合培养模式探索与实践 被引量：2
1
作者 潘成亮 夏豪杰 +3 位作者 黄亮 魏永清 张连生 侯毅 《高教学刊》 2024年第20期51-54,共4页
集成电路测试是集成电路设计制造产业中的重要环节。针对目前国内集成电路测试行业专门技术人才紧缺的现实需求,合肥工业大学联合国内外集成电路产业知名企业,从课程教学内容与教学方法、实验平台建设与实验设计、创新能力培养与学科竞... 集成电路测试是集成电路设计制造产业中的重要环节。针对目前国内集成电路测试行业专门技术人才紧缺的现实需求,合肥工业大学联合国内外集成电路产业知名企业,从课程教学内容与教学方法、实验平台建设与实验设计、创新能力培养与学科竞赛等环节入手,在仪器类专业探索现阶段适合于集成电路测试新工科人才培养的校企合作办学模式。近年来,在集成电路测试课程体系完善、实验平台建设、实践环节培养等方面均取得较好的成果,为新工科人才产教融合培养提供实践经验和参考案例。 展开更多
关键词 集成电路测试 新工科 仪器类专业 产教融合 创新能力
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基于ATE的集成电路测试方案研究 被引量：2
2
作者 吴琳 《电大理工》 2024年第2期12-16,35,共6页
随着半导体和集成电路产业的发展与进步,利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究,对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展,有着极为重要的实际价值。文章在总结集成电路测试分类的基础上,研究基于ATE的集成电路测试方案,分... 随着半导体和集成电路产业的发展与进步,利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究,对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展,有着极为重要的实际价值。文章在总结集成电路测试分类的基础上,研究基于ATE的集成电路测试方案,分析了集成电路自动测试设备的发展和挑战,集成电路测试设备的软硬件架构,进而重点梳理集成电路测试的研究内容,总结出基于ATE的集成电路的测试方案。文章总结测试的各种因素,为设计更好的测试方案提供参考。 展开更多
关键词 自动测试设备 集成电路测试 测试流程
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集成电路测试数据分析系统的设计与实现 被引量：1
3
作者 陈光胜 《集成电路应用》 2024年第2期52-56,共5页
阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素,探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数据一致性所面临的技术挑战,从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析,提出有效的实施策略。同时,围绕集成电路测试数据所面... 阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素,探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数据一致性所面临的技术挑战,从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析,提出有效的实施策略。同时,围绕集成电路测试数据所面临的数据质量问题,挖掘数据质量特征,通过数据质量的主要评价标准及技术效果,提出和实施可行的数据治理方案。 展开更多
关键词 集成电路测试 测试数据分析 数据质量 数据质量特征
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集成电路测试行业现状分析及建议
4
作者 尹航 宋璇 赵梦晗 《中国标准化》 2024年第13期251-254,共4页
集成电路测试是集成电路产业链中不可或缺的环节,集成电路测试能够有效保障产品的质量和性能,目前国内集成电路测试行业发展迅猛,但是和国外相比仍有一定差距。本文分析当前集成电路测试行业现状及发展趋势,剖析集成电路测试行业存在的... 集成电路测试是集成电路产业链中不可或缺的环节,集成电路测试能够有效保障产品的质量和性能,目前国内集成电路测试行业发展迅猛,但是和国外相比仍有一定差距。本文分析当前集成电路测试行业现状及发展趋势,剖析集成电路测试行业存在的问题。当前集成电路测试行业市场集中度、资源利用率、行业透明度均不高,缺少高端人才,行业内企业的融资能力较弱。针对存在的问题提出相应建议,加强测试能力的规划布局、加快关键测试能力的建设、培育和增强核心竞争力、创新行业人才培养模式和加大财税金融支持力度。 展开更多
关键词 集成电路测试 产业链 行业现状 发展趋势 建议措施
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LabVIEW在集成电路测试数据传输和保存中的应用研究
5
作者 田薇 龚榕 +1 位作者 李旭 曹京京 《电子制作》 2024年第24期118-120,97,共4页
随着MCU和FPGA等嵌入式系统在集成电路行业的日益普及,它们成为测试方案的关键技术。然而,这些定制嵌入式测试系统在数据传输和存储方面面临着挑战。针对这一问题,本文应用LabVIEW开发了一套用于集成电路测试数据的上传和存储程序。在... 随着MCU和FPGA等嵌入式系统在集成电路行业的日益普及,它们成为测试方案的关键技术。然而,这些定制嵌入式测试系统在数据传输和存储方面面临着挑战。针对这一问题,本文应用LabVIEW开发了一套用于集成电路测试数据的上传和存储程序。在这一测试框架中,利用MCU、FPGA等嵌入式系统定制的测试设备,通过虚拟串口方式,将格式化的测试数据传输至个人电脑。个人电脑端安装的LabVIEW软件负责接收、分类及解析这些数据,并通过用户界面展示给操作员,同时将这些测试数据储存至文件系统中,便于后续的数据分析工作。 展开更多
关键词 集成电路测试 LABVIEW 串口 嵌入式 数据分析
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集成电路测试插座产品残留检测
6
作者 张健 《中国集成电路》 2024年第9期76-78,共3页
集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产... 集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产品残留的检测能力。且成本低,检出能力强,适用各类薄型集成电路产品。 展开更多
关键词 集成电路测试 插座 残留(叠料) 微型发光二极管 摄像头
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VXI数模混合信号集成电路测试系统 被引量：6
7
作者 冯建科 张生文 郭士瑞 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2005年第2期52-57,共6页
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEI... 数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。 展开更多
关键词 集成电路测试系统 混合信号 信息产业发展 数模混合 信息产业部 VXI总线 软硬件设计 系统开放性 研究开发 设计思想 产业化 高密度 多通道 ATE 低功耗 标准化
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射频集成电路测试技术研究 被引量：5
8
作者 蒲林 任昶 蒋和全 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2005年第2期110-113,共4页
　射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RFIC典型参数,如S参数、带宽、P1dB、OIP3以及噪声系数等... 　射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RFIC典型参数,如S参数、带宽、P1dB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法,并对影响RFIC性能测试的主要因素进行了分析。最后,给出了一种LNA电路的测试结果。 展开更多
关键词 射频集成电路 低噪声放大器 微带线 阻抗匹配 集成电路测试
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基于XGBoost的模拟集成电路测试参数优化方法 被引量：2
9
作者 肖寅东 曾宇通 +1 位作者 刘科 胡聪 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2023年第4期61-68,共8页
随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树... 随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。本文讨论了故障数目、特征重要性和SHAP值3种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过20 PPM的条件下实现25%的测试参数优化。 展开更多
关键词 机器学习 XGBoost 集成电路测试 测试成本 测试逃逸
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集成电路测试技术的新进展 被引量：17
10
作者 时万春 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2007年第4期1-4,共4页
近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASIC... 近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是:IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFT测试、并发测试和开放式体系结构ATE。 展开更多
关键词 集成电路测试系统 SIP测试 RF测试 DFT测试 并发测试 开放式体系结构ATE
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集成电路测试数据的处理 被引量：8
11
作者 柏正香 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期149-152,共4页
简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原... 简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原始数据进行比较合理的处理;使测试值与被测集成电路的性能真值更加接近,避免对电路合格与否做出误判,从而使检验工作更加准确无误。 展开更多
关键词 集成电路测试 临界数据 异常数据 测量误差 数据处理
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国产超大规模集成电路测试系统综合试验验证方法 被引量：3
12
作者 闫丽琴 冯建呈 +3 位作者 王占选 殷晔 刘莹 李小龙 《计算机测量与控制》 2022年第8期277-282,共6页
为全面验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标和性能,提出测试系统的一种综合试验验证方法,根据测试系统不同的验证阶段,分别从系统仪器技术指标测试试验验证、系统软硬件功能测试试验验证和系统集成电路测试能力试验验证3个阶段... 为全面验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标和性能,提出测试系统的一种综合试验验证方法,根据测试系统不同的验证阶段,分别从系统仪器技术指标测试试验验证、系统软硬件功能测试试验验证和系统集成电路测试能力试验验证3个阶段开展综合试验,并针对各阶段的验证方法开展测试系统的试验验证实例分析,验证实例结果表明该综合试验验证方法能够全方位验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标、功能性能以及测试能力,进一步验证所述方法的可行性;该验证方法能够有效解决集成电路测试系统投入测试应用前的试验验证问题,也为新研集成电路测试系统的指标与功能性能验证提供一种有效的综合验证思路。 展开更多
关键词 国产超大规模集成电路测试系统 综合试验验证方法 技术指标测试 软硬件功能测试 测试能力试验验证
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集成电路测试实验课程建设与人才培养 被引量：4
13
作者 戴志坚 韩熙利 《实验科学与技术》 2022年第5期56-60,共5页
集成电路测试专业人才匮乏的现状已经极大地制约了国内集成电路产业发展。对集成电路测试工程师的能力要求涵盖电子电路设计、集成电路设计与可测性设计、集成电路生产工艺、测试计量技术以及软件设计等诸多方面。集成电路测试实验课程... 集成电路测试专业人才匮乏的现状已经极大地制约了国内集成电路产业发展。对集成电路测试工程师的能力要求涵盖电子电路设计、集成电路设计与可测性设计、集成电路生产工艺、测试计量技术以及软件设计等诸多方面。集成电路测试实验课程有针对性地提高了实验者专业能力,经过3年的建设运行,从学习该课程的学生进入专业领域研究和就业前景等方面来看,实验教学均取得了较好的效果,具有推广前景和意义。 展开更多
关键词 集成电路测试 实验课程 人才培养 课程建设
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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置 被引量：1
14
作者 谢永乐 王玉文 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期449-452,496,共5页
研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一... 研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。 展开更多
关键词 数字集成电路 测试时间 扫描链 配置 集成电路测试 极大独立集 时间问题 信息处理 扫描单元 实验证明 国际标准 寄存器 可控性 测试集 多输出 大结构 缩短 内置
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混合集成电路测试系统校准装置架构设计 被引量：3
15
作者 李轩冕 刘倩 胡勇 《计算机与数字工程》 2015年第1期10-13,35,共5页
为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准... 为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。 展开更多
关键词 混合集成电路测试系统 校准 虚拟仪器
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基于LabVIEW的集成电路测试分析仪 被引量：8
16
作者 王帅 《现代电子技术》 2011年第18期158-160,164,共4页
为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,... 为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能。设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信。实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具。 展开更多
关键词 集成电路测试 LABVIEW SN754410 USB/串口转换电路
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混合式教学在“集成电路测试与可测性设计”课程中的实践与探究 被引量：3
17
作者 张颖 陈鑫 《教育教学论坛》 2020年第49期233-235,共3页
在"互联网+教育"的新时代背景和新工科所提出的高阶性和创新性要求下,如何激发教师与学生的积极性和创造力,进而有效提升"教"与"学"的效率,是教学改革迫切要解决的问题。在专业选修课"集成电路测试... 在"互联网+教育"的新时代背景和新工科所提出的高阶性和创新性要求下,如何激发教师与学生的积极性和创造力,进而有效提升"教"与"学"的效率,是教学改革迫切要解决的问题。在专业选修课"集成电路测试与可测性设计"课程中应用线上线下相结合的混合式教学策略,借助智慧教学工具"雨课堂",通过合理的教学设计、改进的教学评估方式、线上线下教学的交织和相互推进,教学效果获得明显提升。 展开更多
关键词 混合式教学 集成电路测试 雨课堂 实证研究
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超大规模集成电路测试现状及关键技术 被引量：20
18
作者 罗宏伟 刘竞升 +1 位作者 余永涛 罗军 《电子产品可靠性与环境试验》 2021年第S02期16-20,共5页
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设计、制造、封装和应用等全产业链。集成电路设计、工艺和封装等技术的发展,对集成电路测试提出了挑战。... 集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设计、制造、封装和应用等全产业链。集成电路设计、工艺和封装等技术的发展,对集成电路测试提出了挑战。在总结集成电路测试分类的基础上,研究了集成电路测试的全流程,基于集成电路测试设备的发展现状,详细地分析了超大规模集成电路的ATE自动化测试、测试向量转化优化和高速信号完整性测试等关键技术,最后展望了超大规模集成电路测试技术发展。 展开更多
关键词 集成电路测试 可测性设计 自动测试设备 测试向量 高速信号
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大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用 被引量：10
19
作者 章慧彬 朱江 《电子与封装》 2017年第6期10-15,共6页
集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最... 集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集成电路测试程序开发技术就显得非常重要。 展开更多
关键词 集成电路测试程序 ATE 参数测试 功能测试
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大规模集成电路测试程序质量控制方法研究 被引量：4
20
作者 孙宇 唐锐 王小强 《电子产品可靠性与环境试验》 2015年第4期55-59,共5页
集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量。对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量。
关键词 集成电路 集成电路测试程序 开发过程 影响要素 评审
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