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基于单片机的晶振温度补偿系统设计 被引量:4
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作者 江金光 唐亚男 李姗姗 《压电与声光》 CAS CSCD 北大核心 2016年第3期492-496,共5页
该文设计了一种基于单片机的温度补偿晶体振荡器系统,它具有可视化、高精度和温度补偿模式可调的特点。在-6.9^+72℃宽温度范围内,单片机分别从测温电路、高精度频率计读取晶振的实时温度和频率,并与内存的电压-温度曲线比较,产生相应... 该文设计了一种基于单片机的温度补偿晶体振荡器系统,它具有可视化、高精度和温度补偿模式可调的特点。在-6.9^+72℃宽温度范围内,单片机分别从测温电路、高精度频率计读取晶振的实时温度和频率,并与内存的电压-温度曲线比较,产生相应的控制电压来精确补偿晶体振荡器的频率偏移;在此温度范围外,通过键盘输入信号控制半导体制冷制热器,调节系统内部温度至此温度范围内完成补偿。测试结果表明,通过该温补系统,在-6.9^+72℃宽温度范围内,其频率-温度稳定度由补偿前的±6.25×10-6变为±1.875×10-6,性能提升了70%。 展开更多
关键词 晶体振荡器 温度补偿 单片机 压控 频率-温度稳定度 高精度
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基于SC切晶体的高准确度MCXO 被引量:1
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作者 赵政强 周渭 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z3期19-21,共3页
针对温补晶振在某些场合的应用提出并实现了一种软件数据补偿的特殊微机补偿晶体振荡器 (MCXO)。不同于传统MCXO对振荡器进行压控补偿的原理 ,这种新型的 MCXO根据温度的变化通过计算机以数据的形式不断修正振荡器的输出频率的标称值 ,... 针对温补晶振在某些场合的应用提出并实现了一种软件数据补偿的特殊微机补偿晶体振荡器 (MCXO)。不同于传统MCXO对振荡器进行压控补偿的原理 ,这种新型的 MCXO根据温度的变化通过计算机以数据的形式不断修正振荡器的输出频率的标称值 ,从而达到对振荡器补偿的目的。此外 ,新型 MCXO在温度传感和数据处理的方法上也都有所改进 ,因而 ,与传统的 MCXO相比 ,这种 MCXO结构简单 ,准确度高 ,具有很广的应用前景。 展开更多
关键词 SC切晶体振荡器 MCXO 频率-温度稳定度 自我温度传感
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应用于TCXO的新型五次方电压发生器的设计 被引量:1
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作者 陈新伟 于海洋 徐华超 《半导体技术》 CSCD 北大核心 2017年第11期813-819,共7页
采用VIS 0.40μm BCD工艺,设计并实现了一种带有修调技术的应用于温度补偿晶体振荡器(TCXO)的新型五次方电压发生器电路,该五次方电压发生器电路主要由五次方电压产生电路与修调电路两部分构成。其中,五次方电压产生电路采用曲线拟合技... 采用VIS 0.40μm BCD工艺,设计并实现了一种带有修调技术的应用于温度补偿晶体振荡器(TCXO)的新型五次方电压发生器电路,该五次方电压发生器电路主要由五次方电压产生电路与修调电路两部分构成。其中,五次方电压产生电路采用曲线拟合技术,相较于传统的乘法器级联结构具有更高的精度;新型修调电路用来改变五次方电压发生器的系数,采用双路开关技术提高了修调结果的精度。仿真结果显示,该五次方电压发生器的最大拟合误差为1.2%。测试结果显示,采用该新型五次方电压发生器电路设计的TCXO,其频率-温度稳定度达到(±0.45)×10^(-6),相位噪声为-135 d Bc/Hz@1 kHz,芯片面积为2 782μm×2 432μm。 展开更多
关键词 五次方电压发生器 温度补偿晶体振荡器(TCXO) 修调电路 频率-温度稳定度 相位噪声
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一种用于TCOCXO的数据修调电路
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作者 徐润 张春雷 +2 位作者 胡锦龙 梁科 李国峰 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第7期508-513,共6页
采用VIS 0.15μm BCD工艺设计了一款应用于温度补偿恒温晶体振荡器(TCOCXO)专用集成电路(ASIC)的数据修调电路。该数据修调电路由逻辑控制电路和一种电可擦可编程只读存储器(EEPROM)构成,主要功能是完成TCOCXO ASIC中温度补偿的控制及... 采用VIS 0.15μm BCD工艺设计了一款应用于温度补偿恒温晶体振荡器(TCOCXO)专用集成电路(ASIC)的数据修调电路。该数据修调电路由逻辑控制电路和一种电可擦可编程只读存储器(EEPROM)构成,主要功能是完成TCOCXO ASIC中温度补偿的控制及实现芯片的多模式工作。与通过模拟函数发生器实现的补偿方式相比,使用该数据修调电路实现的温度补偿方法可以实现更高的补偿精度和更小的芯片面积。通过该电路对TCOCXO ASIC进行调试与配置,搭载该ASIC的晶体振荡器在温度为-40~85℃时频率-温度稳定度可达SymbolqB@5×10^(-9)。TCOCXO ASIC的测试结果表明,这种修调方法在减小芯片面积的同时可以实现更高精度的频率-温度补偿。 展开更多
关键词 温度补偿恒温晶体振荡器(TCOCXO) 数据修调 电可擦可编程只读存储器(EEPROM) 频率-温度稳定度 专用集成电路(ASIC)
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温补石英晶体振荡器测试电路设计方法
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作者 李红 齐雪静 《中国科技期刊数据库 科研》 2017年第3期226-226,共1页
温补石英晶体振荡器(以下简称TCXO)以其功耗低,频率-温度稳定度高等特点被广泛应用于通信、车载导航等设备,关键特性指标频率-温度稳定度、基准频率精度等,在生产过程中需要进行100%测试,如何提高测试的可靠性及效率是设计TCXO测试系统... 温补石英晶体振荡器(以下简称TCXO)以其功耗低,频率-温度稳定度高等特点被广泛应用于通信、车载导航等设备,关键特性指标频率-温度稳定度、基准频率精度等,在生产过程中需要进行100%测试,如何提高测试的可靠性及效率是设计TCXO测试系统的关键。本文提出了一种TCXO测试电路设计方法,用于实现TCXO产品的测试,可保证产品特性测试可靠性,并且可实现批量生产。 展开更多
关键词 温补石英晶体振荡器 频率-温度稳定度
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Enhanced energy storage properties and temperature stability of fatigue-free La-modified PbZrO3 films under low electric fields 被引量:1
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作者 Xiaojun Qiao Wenping Geng +9 位作者 Xi Chen Le Zhang Dongwan Zheng Liaoyuan Zhang Jian He Xiaojuan Hou Yun Yang Min Cui Kaiyang Zeng Xiujian Chou 《Science China Materials》 SCIE EI CSCD 2020年第11期2325-2334,共10页
Electrostatic energy^-storage capacitors,with their ultrahigh storage density and high temperature stability,have been receiving increasing attention of late for their ability to meet the critical requirements of puls... Electrostatic energy^-storage capacitors,with their ultrahigh storage density and high temperature stability,have been receiving increasing attention of late for their ability to meet the critical requirements of pulsed power devices in low^-consumption systems.In such a context,this work reports on the successful production of anti^-ferroelectric(AFE)thin films with excellent energy storage performance under a relatively low electric field.In particular,La^-doped Pb Zr O3 thin films were fabricated using a sol^-gel method,yielding a recoverable energy storage density of 34.87 J cm^-3 with an efficiency of 59.23%at room temperature under the electric field of^800 k V cm^-1.The temperature dependence of the energy storage property was demonstrated from room temperature to 210°C,indicating a stable density variation between 34.87 and 27.98 J cm^-3.The films also exhibited excellent anti^-fatigue property(endurance of up to 3×10^9cycles and the recoverable energy storage density varied from 39.78 to 29.32 J cm^-3 combined with an efficiency of 61.03%–44.95%under the test frequencies from 10 to 5000 Hz).All results were obtained using compact films with a high polarization(Pmax)of approximately 103.7μC cm^-2 and low remnant polarization(Pr^7μC cm^-2),which was owing to the combination of La Ni O3 buffer layers and vacancies at Pb sites.These results illustrate the great potential of pulsed power devices in low^-consumption systems operating in a wide range of temperatures and long^-term operations. 展开更多
关键词 ANTIFERROELECTRIC energy storage SOL-GEL Pb Zr O3thin film stability
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