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基于March X算法的SRAM BIST的设计
被引量：
4
1
作者
冯国臣
沈绪榜
刘春燕
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2005年第12期44-47,共4页
针对LS-DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000...
针对LS-DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%。
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关键词
sram.测试
MARCH算法
BIST
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题名
基于March X算法的SRAM BIST的设计
被引量：
4
1
作者
冯国臣
沈绪榜
刘春燕
机构
西安微电子技术研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2005年第12期44-47,共4页
文摘
针对LS-DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%。
关键词
sram.测试
MARCH算法
BIST
Keywords
sram
, Test, March X algorithm, BIST
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于March X算法的SRAM BIST的设计
冯国臣
沈绪榜
刘春燕
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2005
4
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