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FinFET器件总剂量效应及加固研究进展
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作者 田常湘 丁雪萍 +3 位作者 刘宇 粟嘉伟 张喆垚 林雪梅 《环境技术》 2025年第1期50-57,共8页
随着FinFET器件在航空航天、核能及军事等高辐射环境中的广泛应用,其在总剂量辐射效应(Total Ionizing Dose,TID)下的性能可靠性成为重要研究课题。本文阐述了FinFET器件的基本原理及其在TID效应下的性能影响,讨论了关于FinFET TID效应... 随着FinFET器件在航空航天、核能及军事等高辐射环境中的广泛应用,其在总剂量辐射效应(Total Ionizing Dose,TID)下的性能可靠性成为重要研究课题。本文阐述了FinFET器件的基本原理及其在TID效应下的性能影响,讨论了关于FinFET TID效应的机理分析,总结了目前的模拟模型工具以及加固方法,包括优化材料、改进器件结构和采用电路冗余等策略,以提高FinFET在高辐射环境下的可靠性。未来研究应继续探索新材料和创新结构,以进一步提升FinFET的抗辐射能力,满足极端环境下的应用需求。 展开更多
关键词 FinFET器件 总剂量辐射效应 模拟模型工具 加固方法
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先进微陀螺器件及微惯性测量单元最新研究进展 被引量:9
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作者 何杰 朴继军 +2 位作者 朱玲瑞 袁小平 胡少勤 《压电与声光》 CAS 北大核心 2019年第3期410-415,共6页
微纳加工技术与振动惯性技术的结合使惯性仪表技术发生了重大的变革,拓展了惯性技术在军用和民用领域的应用。高性能微惯性器件对军事装备和国民经济的发展起着越来越大的作用。该文基于美国国防高级研究计划局(DARPA)近年来在微惯性传... 微纳加工技术与振动惯性技术的结合使惯性仪表技术发生了重大的变革,拓展了惯性技术在军用和民用领域的应用。高性能微惯性器件对军事装备和国民经济的发展起着越来越大的作用。该文基于美国国防高级研究计划局(DARPA)近年来在微惯性传感器技术领域的资助项目,综合研究了微机电系统(MEMS)谐振陀螺、微光学陀螺(MOG)、声表面波(SAW)陀螺等微惯性传感器技术及微惯性测量单元的最新发展现状,并对其发展面临的技术挑战进行了详细地分析与评述。 展开更多
关键词 微纳加工技术 微陀螺 微半球谐振陀螺 微光学陀螺 声表面波(SAW)陀螺 微惯性测量单元
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集成铌酸锂光子器件技术的研究进展 被引量:4
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作者 张涛 何杰 +2 位作者 胡少勤 许昕 张玉蕾 《压电与声光》 CAS 北大核心 2020年第6期837-842,共6页
铌酸锂单晶薄膜(LNOI)具有透光光谱宽,折射率高,二阶非线性高及压电响应大等优点,是一种重要的集成光子学基础材料。LNOI材料具有亚波长尺度的光约束和光电器件的高密度集成能力,能够实现具有更高性能、更低成本的全新器件及应用,给光... 铌酸锂单晶薄膜(LNOI)具有透光光谱宽,折射率高,二阶非线性高及压电响应大等优点,是一种重要的集成光子学基础材料。LNOI材料具有亚波长尺度的光约束和光电器件的高密度集成能力,能够实现具有更高性能、更低成本的全新器件及应用,给光通信和微波光子学带来革命性的变革。该文重点综述了LNOI的制备技术、LNOI电光调制器、LNOI声光调制器和LNOI电光频率梳的最新研究进展,简要讨论了铌酸锂光子器件在制作工艺和系统实现中面临的挑战。 展开更多
关键词 绝缘体上铌酸锂 集成光子器件 铌酸锂单晶薄膜(LNOI)电光调制器 铌酸锂单晶薄膜(LNOI)声光调制器 铌酸锂单晶薄膜(LNOI)光学频率梳
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光电耦合器内部气氛长期贮存变化的研究 被引量:2
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作者 周帅 郑大勇 +1 位作者 欧熠 陈海鑫 《电子器件》 CAS 北大核心 2016年第6期1292-1296,共5页
根据气密封装器件的内部气体流动原理,对光电耦合器内部气氛含量的初始状态进行了分析,对长期贮存的变化状态进行了预测,随后采用内部气氛分析仪验证预测结果,证明了气体流量原理能够有效预测光电耦合器封装内部的气氛含量,并且能够将... 根据气密封装器件的内部气体流动原理,对光电耦合器内部气氛含量的初始状态进行了分析,对长期贮存的变化状态进行了预测,随后采用内部气氛分析仪验证预测结果,证明了气体流量原理能够有效预测光电耦合器封装内部的气氛含量,并且能够将封装工艺的薄弱环节暴露在检测初始阶段。通过分析测量漏率与真实漏率之间的关系,对提高预测光电耦合器内部气氛含量长期贮存变化的准确性提出了建议。 展开更多
关键词 光电耦合器 长期贮存 气体流动原理 内部气氛变化
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压电单晶薄膜衬底光刻工艺研究 被引量:2
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作者 唐代华 潘祺 +4 位作者 米佳 冷俊林 唐塽 何西良 黎妮 《压电与声光》 CAS 北大核心 2021年第4期583-586,共4页
单晶薄膜声表面波(SAW)滤波器因其低损耗,低频率温度系数及大带宽而成为高性能SAW滤波器未来发展的方向。针对单晶薄膜衬底反射带来的换能器指条锯齿和均匀性恶化的问题,该文采用了有机抗反射膜工艺,通过控制抗反射膜的膜厚将衬底的相... 单晶薄膜声表面波(SAW)滤波器因其低损耗,低频率温度系数及大带宽而成为高性能SAW滤波器未来发展的方向。针对单晶薄膜衬底反射带来的换能器指条锯齿和均匀性恶化的问题,该文采用了有机抗反射膜工艺,通过控制抗反射膜的膜厚将衬底的相对反射率由15.84%降低至1.08%,制作出整齐无毛刺的叉指换能器指条,并将SAW谐振器的伯德Q(Bode-Q)值由1400提升到1950。 展开更多
关键词 压电单晶薄膜衬底 抗反射膜 光刻 伯德Q值
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光电子集成电路材料制作工艺的进展 被引量:1
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作者 杨清宗 《微电子学》 CAS CSCD 1991年第2期31-35,共5页
光电子集成电路的未来进步主要取决于Ⅲ-Ⅴ族材料的合成技术,特别是汽相外延和分子束外延技术的持续进展,以及各种材料加工技术的发展。本文将对此作比较详尽的叙述。
关键词 集成电路 半导体材料 工艺 光电子
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刍议功率芯片低空洞率共晶焊接技术
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作者 唐塽 赵瑞莲 +1 位作者 席曼曼 唐嘉乐 《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》 2025年第1期151-154,共4页
固体继电器可应用于对功率电路的开关隔离控制、电源配电及开关控制信号隔离传输,广泛应用在军事和航空、航天领域及部分高可靠系统。固体继电器采用光电隔离耦合方式,输入端、输出端分别采用发光二极管、功率芯片。在固体继电器的制造... 固体继电器可应用于对功率电路的开关隔离控制、电源配电及开关控制信号隔离传输,广泛应用在军事和航空、航天领域及部分高可靠系统。固体继电器采用光电隔离耦合方式,输入端、输出端分别采用发光二极管、功率芯片。在固体继电器的制造过程中,采用共晶焊接技术使功率芯片与管壳之间良好连接,是保证器件实现大电流、高散热要求的前提。基于此,为实现低空洞共晶焊接技术,分析共晶焊接前的焊接设备的选择及准备工作,并提出了压力设计、定位装置设计、空洞率回归模型与焊接集成、共晶焊接验证等低空洞率共晶焊接技术要点,保证功率芯片的焊接更高效,提升器件可靠性。 展开更多
关键词 功率芯片 低空洞率 共晶焊接
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半导体光电子激光器技术的发展 被引量:2
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作者 程开富 《电子元器件应用》 2008年第8期78-80,共3页
分析了通信用光电子器件的分类,介绍了半导体光电子激光器件的发展背景和工作原理,同时分析了半导体光电子激光器件的技术重点以及市场前景。
关键词 通信 光电子器件 半导体 晶体管激光器
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封装管壳密封性自动化检漏系统的设计与研究
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作者 周帅 翁章钊 +1 位作者 刘晓臣 欧熠 《控制工程》 CSCD 北大核心 2020年第6期1049-1054,共6页
根据封装管壳的密封性检测参数来设计自动化检漏系统。首先对封装管壳密封性自动化检漏系统中喷氦试验枪的直径、角度及长径比等关键参数进行设计验证;再从带动喷氦试验枪运动的控制系统及机械结构整体设计,研究制定了管壳密封试验中喷... 根据封装管壳的密封性检测参数来设计自动化检漏系统。首先对封装管壳密封性自动化检漏系统中喷氦试验枪的直径、角度及长径比等关键参数进行设计验证;再从带动喷氦试验枪运动的控制系统及机械结构整体设计,研究制定了管壳密封试验中喷氦时间及移动速度两个重要的自动化检漏参数,建立了封装管壳密封性自动化检测系统;最后,用小腔体封装管壳进行喷氦检漏试验,验证了自动化检漏系统运用在封装管壳密封性检测时的适用性及有效性,填补了现有封装管壳密封性检测标准的不足,也为其他产品自动化测试密封性提供了设计及测试思路。 展开更多
关键词 封装管壳 密封性 自动化检漏 系统设计 喷氦参数
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光电耦合器内部气氛控制技术及工艺研究 被引量:1
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作者 吴琼瑶 《科技与创新》 2020年第9期128-129,共2页
为满足尖端领域对高可靠性元器件内部气氛控制的要求,分析了内部气氛的构成及现有内部气氛控制水平,并基于现有工艺,采取多维度内部气氛控制的工艺措施,在各工艺维度上,通过试验研究对工艺条件进行迭代验证,并增加配套控制措施,确定了... 为满足尖端领域对高可靠性元器件内部气氛控制的要求,分析了内部气氛的构成及现有内部气氛控制水平,并基于现有工艺,采取多维度内部气氛控制的工艺措施,在各工艺维度上,通过试验研究对工艺条件进行迭代验证,并增加配套控制措施,确定了各工艺维度的条件。经过试验验证,内部气氛控制水平有显著提升,可满足航天高可靠性的控制要求且有较大余量。 展开更多
关键词 光电耦合器 内部气氛 多维度内部气氛控制 迭代验证
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面向动态场景的片上编码超分辨率图像传感器
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作者 冒添逸 王磊 +3 位作者 郑雷军 江宇祺 朱书进 戴修斌 《南京邮电大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第1期49-56,共8页
针对图像传感器像素尺寸接近物理极限,难以进一步提高的问题,提出片上编码超分辨率图像传感器。不同于计算视觉中的图像超分辨率任务,片上编码超分技术通过引入光学调控,提供了较为完备的理论依据与数学约束,更加适用于遥感、医学影像... 针对图像传感器像素尺寸接近物理极限,难以进一步提高的问题,提出片上编码超分辨率图像传感器。不同于计算视觉中的图像超分辨率任务,片上编码超分技术通过引入光学调控,提供了较为完备的理论依据与数学约束,更加适用于遥感、医学影像等对可解释性和置信度要求较高的领域。首先,构建了面向动态场景的波分复用测量模型和二维空间的三维空间表征与编解码方法。更进一步,基于有限等距性质理论证明了片上静态随机编码板的透过率在50%时,信息采样效率最大。最后,设计了CCD器件的专用编码电路组件,通过电子学验证的方式在室内和室外场景验证了片上编码超分辨率图像传感的可行性和有效性。 展开更多
关键词 动态场景 片上编码 图像传感器 超分辨率 可解释性
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某型号高线性光电耦合器输出超差失效研究 被引量:3
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作者 吴琼瑶 《电子产品可靠性与环境试验》 2020年第S01期23-28,共6页
针对国产某型号高线性光电耦合器在实际使用中出现的输出电压下降的问题,通过建立故障树,并逐一排除失效点的办法,找出了器件的失效原因为调试电阻与导电胶的连接退化;分析了其失效机理,提出了相应的改进措施;通过试验对改进措施的有效... 针对国产某型号高线性光电耦合器在实际使用中出现的输出电压下降的问题,通过建立故障树,并逐一排除失效点的办法,找出了器件的失效原因为调试电阻与导电胶的连接退化;分析了其失效机理,提出了相应的改进措施;通过试验对改进措施的有效性进行了验证,为后续的工艺与设计改进提供了数据与理论基础。 展开更多
关键词 输出电压 故障树 失效机理 导电胶 功能失效
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基于MOEMS技术光开关的研究与进展
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作者 赵华君 袁代蓉 段利华 《重庆文理学院学报(自然科学版)》 2007年第6期55-58,共4页
光开关是光通信网络的重要功能器件,基于MOEMS技术的光开关是最具发展前景的光开关之一.本文在简介不同种类光开关原理特点的基础上,详细分析了MOEMS光开关的设计、性能指标、结构、分类等,并给出了这一领域最新的研究与进展状况.
关键词 光开关 MOEMS 光纤通信 密集波分复用
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某PIN模块响应度降低故障失效研究 被引量:1
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作者 吴琼瑶 李钦 伍明娟 《电子产品可靠性与环境试验》 2020年第4期88-93,共6页
针对PIN光电探测器模块在实际工程应用中出现的响应度降低的失效问题,通过建立故障树,对每一个可能产生失效的点进行了失效研究,查找了其失效原因,研究了其失效机理,并提出了相应的改进措施,为PIN模块的可靠性增长提供了实践依据。
关键词 PIN模块 故障树 失效分析 失效机理
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纳米光电子器件的最新进展及发展趋势
15
作者 程开富 《微纳电子技术》 CAS 2004年第8期14-20,共7页
主要介绍了纳米光电子学的基本概念、发展模式以及纳米光电子器件的最新进展和发展趋势。
关键词 纳米技术 纳米电子技术 纳米光电子技术 纳米光电子器件 纳米激光器
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验收是元器件质量控制的一种有效途径
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作者 曾娅秋 赵欣悦 +3 位作者 刘宇 韩星 余航 张喆垚 《环境技术》 2025年第1期97-100,共4页
主要阐述了电子元器件可靠性控制中验收环节的重要性。归纳总结了验收在元器件运用于不同场景的质量保证作用,通过元器件验收技术要求、破坏性物理分析(DPA)试验和验收流程的优化、验收数据库的建立以及验收人员的工作能力的提高来满足... 主要阐述了电子元器件可靠性控制中验收环节的重要性。归纳总结了验收在元器件运用于不同场景的质量保证作用,通过元器件验收技术要求、破坏性物理分析(DPA)试验和验收流程的优化、验收数据库的建立以及验收人员的工作能力的提高来满足元器件高可靠性的要求。 展开更多
关键词 电子元器件 质量控制 可靠性 验收
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InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管InP顶层掺杂研究 被引量:4
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作者 李彬 陈伟 +5 位作者 黄晓峰 迟殿鑫 姚科明 王玺 柴松刚 高新江 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第4期420-424,共5页
通过理论计算和对比实验研究了InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管中InP顶层掺杂浓度对于器件性能的影响.理论结果显示,InP顶层的掺杂浓度越低越有利于抑制边缘击穿,降低隧穿暗载流子产生速率,提高雪崩击穿几率.实验结果显示,顶层非故意掺... 通过理论计算和对比实验研究了InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管中InP顶层掺杂浓度对于器件性能的影响.理论结果显示,InP顶层的掺杂浓度越低越有利于抑制边缘击穿,降低隧穿暗载流子产生速率,提高雪崩击穿几率.实验结果显示,顶层非故意掺杂的器件在223K下获得了20%的单光子探测效率和1kHz的暗计数率,其单光子探测效率比顶层掺杂浓度为5×10^(15)/cm^3的器件高3%~8%,而暗计数率低一个量级.结果表明,降低InP顶层的掺杂浓度有利于提高器件性能. 展开更多
关键词 INGAAS/INP 单光子雪崩光电二极管 顶层 掺杂浓度
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医用微流控芯片研究进展 被引量:4
18
作者 齐云 李晖 +3 位作者 米佳 胡少勤 赖凡 张玉蕾 《微电子学》 CAS 北大核心 2019年第3期366-372,共7页
随着微电子学和微机电系统技术不断发展,微流控芯片技术不断创新,一些具有颠覆意义的新型医用芯片不断出现,并成为现代医学技术的支撑工具。首先,概述了医用微流控芯片的概念和应用。然后,介绍了6种具有代表性的新型医用微流控芯片的研... 随着微电子学和微机电系统技术不断发展,微流控芯片技术不断创新,一些具有颠覆意义的新型医用芯片不断出现,并成为现代医学技术的支撑工具。首先,概述了医用微流控芯片的概念和应用。然后,介绍了6种具有代表性的新型医用微流控芯片的研究进展,包括基因芯片、即时诊断芯片、免疫芯片、可穿戴式芯片、数字化聚合酶链式反应芯片、循环肿瘤细胞芯片、组织与器官仿生芯片。最后,总结了医用微流控芯片的发展趋势。 展开更多
关键词 微流控技术 微流控芯片 医学 医药
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立方相SiC MEMS器件研究进展 被引量:2
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作者 杨挺 孙国胜 +8 位作者 吴海雷 闫果果 宁瑾 赵永梅 刘兴昉 罗木昌 王雷 赵万顺 曾一平 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2010年第7期415-424,共10页
主要介绍了近年来国内外出现的有市场推广潜力的立方相碳化硅(3C-SiC)MEMS器件,详细描述了其中一些典型器件的基本结构、加工工艺及初步测试结果,并指出了要想提高器件的可靠性,需要获得低残余应力、低应力梯度的薄膜材料,应当采用合适... 主要介绍了近年来国内外出现的有市场推广潜力的立方相碳化硅(3C-SiC)MEMS器件,详细描述了其中一些典型器件的基本结构、加工工艺及初步测试结果,并指出了要想提高器件的可靠性,需要获得低残余应力、低应力梯度的薄膜材料,应当采用合适的刻蚀方法,还需保证金属与碳化硅欧姆接触的稳定性,同时高温引线键合与封装工艺亦不能忽视。随着材料生长和加工成本的不断降低,3C-SiC基MEMS器件将会逐步走向商品化。 展开更多
关键词 立方相碳化硅 MEMS器件 基本结构 加工工艺 测试结果 可靠性
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高速光纤总线技术研究 被引量:1
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作者 唐敏 饶垚 +2 位作者 蒋东新 胡伟 何磊 《重庆第二师范学院学报》 2015年第3期167-170,共4页
分析了几种常见高速光纤总线技术在物理层、链路层和逻辑层上的相似性和差异性,且研究在实际工程应用中的可用性和可靠性。
关键词 光纤 总线技术 可用性 可靠性
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