利用扫描电子显微镜对BeO电路基片进行失效分析

1

作者 王志红 常嗣和 +1 位作者 包生祥 宁永功 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期792-793,共2页

关键词 扫描电子显微镜 BEO 电路基片 失效分析 氧化铍陶瓷 薄膜电路

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RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析

2

作者 阮世池 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第1期103-107,共5页

利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析，查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体，引起电阻器的导电膜被电解腐蚀，最终导致电阻器失效。

关键词 电子显微分析 电阻器 绝缘涂复层 失效

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声表面波器件薄膜电极脱落的电子探针分析

3

作者 阮世池 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期605-608,共4页

电子探针显微分析法（ＥＰＭＡ）能把试样微区形貌分析与微区成分分析有机地结合起来。利用这一特点，文中对Ａｕ／Ｃｒ／Ｂｉ１２ＧｅＯ２０声表面波器件作了显微分析研究，探明了薄膜电极脱落发生在Ｃｒ膜与Ｂｉ１２ＧｅＯ２０基片的... 电子探针显微分析法（ＥＰＭＡ）能把试样微区形貌分析与微区成分分析有机地结合起来。利用这一特点，文中对Ａｕ／Ｃｒ／Ｂｉ１２ＧｅＯ２０声表面波器件作了显微分析研究，探明了薄膜电极脱落发生在Ｃｒ膜与Ｂｉ１２ＧｅＯ２０基片的界面上。由于Ｃｒ膜与基片间是弱的简单附着机制，并且Ｃｒ膜承受着强烈的内应力，最终导致薄膜电极脱落。 展开更多

关键词 电子探针 显微分析 薄膜电极 声表面波器件

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催化剂原料高岭土的XRF分析 被引量：9

4

作者 包生祥 王志红 荣丽梅 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期739-741,共3页

本文拟定了Ｘ－射线荧光分析催化剂原料高岭土中Ａｌ２Ｏ３、ＳｉＯ２和杂质成分的方法。根据精矿中分析元素含量范围和基体效应的估计，分别合成了Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２二元系和含所有杂质成分的两套标准系列，测定烧失量后的粉末样品... 本文拟定了Ｘ－射线荧光分析催化剂原料高岭土中Ａｌ２Ｏ３、ＳｉＯ２和杂质成分的方法。根据精矿中分析元素含量范围和基体效应的估计，分别合成了Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２二元系和含所有杂质成分的两套标准系列，测定烧失量后的粉末样品。用本文改进的少量粉末样品制备法压片，各组分含量由校正曲线直接求取而不需基体校正。与熔片法相比，本法不存在熔剂杂质和稀释比对高岭土精矿中微量成分测定的影响。 展开更多

关键词 高岭土 杂质 样品制备 催化剂原料 IRF 分析

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X-射线荧光分析散射函数法的原理及其应用Ⅲ.连续背景幂函数法 被引量：2

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作者 包生祥 王志红 荣丽梅 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第2期221-224,共4页

本文在宽的基体变化范围内对波长为０．０８１ｎｍ的连续散射Ｘ－射线进行了研究，表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系，而是呈一种幂函数关系。理论证明和实验结果一致。提出了用０．０８１... 本文在宽的基体变化范围内对波长为０．０８１ｎｍ的连续散射Ｘ－射线进行了研究，表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系，而是呈一种幂函数关系。理论证明和实验结果一致。提出了用０．０８１ｎｍ处的散射强度的函数校正基体效应的方法，并用于地质样品中微量锶的测定，结果显示，在较大的基体变动范围内，本法与传统散射内标法相比准确度提高近４倍，克服了传统方法适应基体变化范围小的缺点。 展开更多

关键词 连续散射 散射幂函数 基体校正 X射线荧光光谱

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高岭土精矿的X-射线荧光分析 被引量：8

6

作者 包生祥 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第5期619-619,共1页

关键词 高岭土 X-射线荧光分析

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氧化铍陶瓷的分析研究 被引量：1

7

作者 王志红 包生祥 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第4期326-327,共2页

关键词 氯化铍绝缘材料 陶瓷 失效分析 微观结构 纯度

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X-射线荧光分析散射幂函数法的原理及其应用Ⅱ.非相干散射 被引量：1

8

作者 包生祥 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第1期90-92,共3页

本文在较宽的基体原子序数变化范围内研究了非相干散射随基体吸收系数的变化规律，发现存在一种幂函数关系，而传统散射内标法所假定的反比关系仅在较窄的轻元素范围内存在。实验证实了这种理论规律的存在。提出了用康普顿散射幂函数法... 本文在较宽的基体原子序数变化范围内研究了非相干散射随基体吸收系数的变化规律，发现存在一种幂函数关系，而传统散射内标法所假定的反比关系仅在较窄的轻元素范围内存在。实验证实了这种理论规律的存在。提出了用康普顿散射幂函数法校正基体吸收效应的新方法。列举了幂函数法在地质样品中锶的测定实例，证明该法在宽的基体组成范围内比传统的散射内标法适应性强。 展开更多

关键词 散射幂函数法 基体校正 X射线荧光分析

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强介陶瓷低压扫描电子显微术 被引量：1

9

作者 阮世池 《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期591-592,共2页

扫描电镜，从分辨能力的观点看，适当高的加速电压有高的分辨能力。然而，提高加速电压，有如下不可忽视的缺点：（１）样品表面微细结构信息被削弱或被遮盖；（２）明显的边缘效应；（３）导热性差的材料，在受电子束照射时易造成损伤... 扫描电镜，从分辨能力的观点看，适当高的加速电压有高的分辨能力。然而，提高加速电压，有如下不可忽视的缺点：（１）样品表面微细结构信息被削弱或被遮盖；（２）明显的边缘效应；（３）导热性差的材料，在受电子束照射时易造成损伤；（４）对导电性差的样品，引起荷电... 展开更多

关键词 扫描电镜 低加速电压 强介陶瓷 绝缘陶瓷

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多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析

10

作者 马丽丽 包生祥 +1 位作者 戴林杉 曾慧中 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期318-318,共1页

关键词 多层陶瓷电容器 原子力显微镜分析 流延膜 原子力显微镜(AFM) 表面形貌 晶粒尺寸 粗糙表面 表面微结构 AFM成像

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大电流冲击下MZ23样品炸裂的原因分析

11

作者 荣丽梅 刘兴萍 +2 位作者 赖燕 谢永红 包生祥 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第4期416-417,共2页

关键词 大电流冲击 MZ23样品 炸裂分析 微观结构 PTC陶瓷 电流-时间特性 设备保护 SEM分析 AST相

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针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法

12

作者 陈冠群 方盛国 秦会斌 《电子显微学报》 CAS CSCD 1996年第6期536-536,共1页

针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法陈冠群方盛国秦会斌（四川师范大学分析测试中心）（成都电子科技大学材料分析中心）在电子显微镜下观察到的微粒样品有球状、粒状、椭球状、针状、棒状、片状等等［１］，传统的粒度分析方法都是用直... 针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法陈冠群方盛国秦会斌（四川师范大学分析测试中心）（成都电子科技大学材料分析中心）在电子显微镜下观察到的微粒样品有球状、粒状、椭球状、针状、棒状、片状等等［１］，传统的粒度分析方法都是用直径来描述其几何尺寸，尽管有些粒度分... 展开更多

关键词 粒度分析 电镜 微粒样品

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用扫描电镜–微粒分析仪测量粉末样品

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作者 阮世池 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期10-10,15,共2页

利用扫描电镜配备微粒分析仪(SEM/MPA)对粉末样品作了形貌观察和粒度统计分布测定，表明SEM/MPA可在陶瓷工艺、冶金工艺等材料工程中实际应用。

关键词 扫描电子显微镜 微粒分析仪 粉末测量

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国产高纯TiO_2粉体颗粒形貌扫描电镜分析

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作者 安果芒 刘兴萍 +1 位作者 谢永红 荣丽梅 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期776-777,共2页

关键词 高纯TiO2粉体 颗粒形貌 扫描电镜分析 二氧化钛粉体 国产化 PTC热敏电阻 BaTiO3半导体瓷

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稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库的设计与实现

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作者 闫耀 包生祥 +6 位作者 孙井钊 赖维明 桂龙 程玲莉 沈安国 谭福明 张明 《磁性材料及器件》 北大核心 2014年第5期68-71,共4页

在长期的稀土钴永磁材料研制和微观分析测试工作中,积累了大量分析研究案例和典型图谱。针对这些资料的有效存储和合理利用问题,利用Access为后台数据仓库,C#为开发语言,设计开发了稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库,并将典型案例从材... 在长期的稀土钴永磁材料研制和微观分析测试工作中,积累了大量分析研究案例和典型图谱。针对这些资料的有效存储和合理利用问题,利用Access为后台数据仓库,C#为开发语言,设计开发了稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库,并将典型案例从材料、工艺、质量、失效、分析测试方法和其它等方面进行分类整理后添加入库。该数据库的建成和使用,实现了方便、快捷的数据查阅和更新,有助于在后续研制生产过程中快速解决相关问题,提高工作效率。 展开更多

关键词 稀土钴永磁材料 微观分析 数据库 案例

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行波管用钨铼合金中高含量铼的X射线荧光光谱测定 被引量：12

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作者 包生祥 王守绪 +3 位作者 马丽丽 赵登华 范荣奎 李键 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期460-462,共3页

根据行波管用的关键材料 钨铼合金中高含量铼测定的需求 ,研究了用X射线荧光 (XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响 ,从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均表明 :直接用ReLα... 根据行波管用的关键材料 钨铼合金中高含量铼测定的需求 ,研究了用X射线荧光 (XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响 ,从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均表明 :直接用ReLα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性。本法具有快速准确的特点 ,分析结果与化学方法一致 ,在生产控制中应用效果显著。 展开更多

关键词 上解 线性 XRF 高含量 基体效应 X射线荧光光谱 二元 光谱法 原因 分析结果

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X-射线荧光光谱测定甜瓜中矿质元素 被引量：9

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作者 包生祥 王志红 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期558-561,共4页

报道了日本理学3080E3型X-射线荧光光谱仪在测定甜瓜样品常量和微量矿质元素中的应用。以国家植物标准参考物质(GBW)为校准标样,采用真空加热干燥法制备甜瓜样品,所得分析结果与ICP-AES对照相吻合。

关键词 X射线荧光光谱 甜瓜 矿质元素 矿物质 测定

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单晶表面加工损伤的评价方法 被引量：4

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作者 彭晶 包生祥 马丽丽 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期101-104,共4页

单晶表面加工损伤是衡量工艺水平以及单晶片质量的一个主要参数。综述对单晶表面加工损伤进行分析评价的各种方法,对各种分析方法的基本原理、主要特点及应用做了概要介绍。由于单晶表面损伤以及表面残余应力存在一定的梯度及各种表征... 单晶表面加工损伤是衡量工艺水平以及单晶片质量的一个主要参数。综述对单晶表面加工损伤进行分析评价的各种方法,对各种分析方法的基本原理、主要特点及应用做了概要介绍。由于单晶表面损伤以及表面残余应力存在一定的梯度及各种表征方法的作用机理、作用深度不尽相同,因此不同的评价方法对同一样品的分析往往会出现差异。根据不同的分析目的,给出了选择分析手段的建议。 展开更多

关键词 单晶 表面损伤层 分析评价

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X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素 被引量：2

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作者 包生祥 王志红 +2 位作者 荣丽梅 刘敬松 郭俊 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第6期756-758,共3页

拟定了BeO中12种痕量杂质元素的X-射线荧光光谱测定方法．采用光谱纯试剂人工合成校准标样，粉末压块法制备分析样片。考虑到BeO对X射线的透明性，在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激发以提高灵敏度。... 拟定了BeO中12种痕量杂质元素的X-射线荧光光谱测定方法．采用光谱纯试剂人工合成校准标样，粉末压块法制备分析样片。考虑到BeO对X射线的透明性，在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激发以提高灵敏度。本文分析结果与等离子发射光谱和原子吸收光谱对照相吻合。 展开更多

关键词 X-射线荧光光谱 氧化铍 杂质测定 陶瓷

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岩石样品中主次微量元素的X-射线荧光光谱测定 被引量：4

20

作者 罗丽 包生祥 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第9期1125-1128,共4页

利用日本理学３０６３型Ｘ－射线荧光光谱仪拟定了岩石中多元素测定方法。采用国家 一级标准参照物质为校准标准，用适应原子序数范围宽的散射幂函数法校正基体效应，本法 获得了低的检出限、高的精密度和准确度。

关键词 多元素测定 岩石 X射线荧光光谱 微量元素

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