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利用能量过滤TEM获取外延量子点的成分信息(英文) 被引量：1
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作者 廖晓舟 邹进 蒋最敏 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第3期208-213,共6页
半导体量子点应用于许多关键的现代科学技术中。量子点的尺寸和成分对决定量子点光电性质十分重要。由于量子点的尺寸很小,表征量子点的成分及其分布是一项很有挑战性的任务。本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的... 半导体量子点应用于许多关键的现代科学技术中。量子点的尺寸和成分对决定量子点光电性质十分重要。由于量子点的尺寸很小,表征量子点的成分及其分布是一项很有挑战性的任务。本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的研究。 展开更多
关键词 半导体量子点 光电性质 透射电子显微术 电子能量损失谱
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